Interféromètre pour mesure de déplacement sub-nanométrique MarSurf WI 50 M
compact3D

interféromètre pour mesure de déplacement sub-nanométrique
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Caractéristiques

Applications
pour mesure de déplacement sub-nanométrique
Spécifications
compact, 3D

Description

MarSurf WI 50M est un interféromètre en lumière blanche performant, permettant la mesure et l'analyse tridimensionnelle de surfaces, sans contact, sans influence du matériau et rapidement. Solution performante d'entrée de gamme La mesure exacte dans la plage du subnanomètre est très simple avec le nouveau MarSurf WI 50 M. Grâce à sa commande intuitive par logiciel et à son concept d'utilisation très simple, cet appareil de mesure 3D est conçu pour une utilisation quotidienne en laboratoire et en gestion de la qualité. Le nouveau WI 50 M répond à toutes vos exigences en matière de tâches de mesure dans la plage du nanomètre – avec des performances maximales et un rapport prix/performances imbattable. Sa forme compacte, réduite à l'essentielle, et son grand espace de montage font de cet outil une « solution d'entrée de gamme optimale ». Tâches de mesure caractéristiques Mesure de rugosité selon ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178 Mesures de topographie (dont volume, usure, tribologie) Contour et forme (2D, 3D) Analyse de pores et de particules Détection de défauts ...

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ACHEMA 2024
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10-14 juin 2024 Frankfurt am Main (Allemagne)

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