Devenir exposant
*mydirectindustry  
Français
  1. Mécanique - Transmission de puissance
  2. Actionneur et Positionnement
  3. Platine de positionnement XY
  4. Märzhäuser Wetzlar

Platine de positionnement XY EK 75 x 50 MR
à commande manuellemanuelle2 axes

Platine de positionnement XY - EK 75 x 50 MR - Märzhäuser Wetzlar - à commande manuelle / manuelle / 2 axes
Platine de positionnement XY - EK 75 x 50 MR - Märzhäuser Wetzlar - à commande manuelle / manuelle / 2 axes
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
Plus d'informations sur le site de Märzhäuser Wetzlar

Caractéristiques

Orientation
XY
Type
à commande manuelle, manuelle
Nombre d'axes
2 axes
Autres caractéristiques
de mesure, pour microscopes
Course

Max: 75 mm
(2,953 in)

Min: 50 mm
(1,969 in)

Description

Présentation du produit
  • Table de mesure manuelle avec système de mesure intégré.


Numéro d'article
  • 00-22-321-0000


Informations complémentaires
  • table de mesure manuelle
  • avec système de mesure intégré
  • surface CERASIST® sans usure
  • transmission coaxiale réglable en course et en friction pour une manipulation ergonomique
  • pour applications en lumière réfléchie et transmise
  • livrée avec porte-lame pour lames 76 x 26 mm
  • inclut l'unité d'affichage PROFILER SCD


Accessoires
  • PROFILER SCD
  • porte-lame


Microscopes compatibles
  • Leica - DM2500 (microscopes droits)
  • Nikon - Eclipse 50i (microscopes droits)
  • Nikon - Eclipse 55i (microscopes droits)
  • Nikon - Eclipse 80i (microscopes droits)
  • Nikon - Eclipse E400 (microscopes droits)
  • Nikon - Eclipse E600 (microscopes droits)
  • Nikon - Eclipse LV100D / LV100DA (microscopes droits)
  • Olympus - BX41 (microscopes droits)
  • Olympus - BX41M (microscopes droits)
  • Olympus - BX51 (microscopes droits)
  • Olympus - BX51M (microscopes droits)
  • Olympus - BX61 (microscopes droits)
  • Olympus - BX61M (microscopes droits)
  • Zeiss - Axio Imager (microscopes droits)
  • Zeiss - Axioskop (microscopes droits)
  • Leica - DM4 B (microscopes droits)
  • Leica - DM4 M (microscopes droits)
  • Leica - DM6 M (microscopes droits)
  • Leica - DM6 B (microscopes droits)
  • Zeiss - Axio Scope.A1 HAL 100 (microscopes droits)
  • Zeiss - Axio Scope.A1 HAL 50 + LED (microscopes droits)


Fiches techniques
  • 00-22-321-0000_EK_75_50_MR_DE.pdf
  • 00-22-321-0000_EK_75_50_MR_EN.pdf


Caractéristiques / Spécifications techniques
  • Modèle : EK 75 x 50 MR
  • Numéro d'article : 00-22-321-0000
  • Table de mesure manuelle avec système de mesure intégré
  • Surface CERASIST® sans usure
  • Transmission coaxiale réglable en course et en friction
  • Pour applications en lumière réfléchie et transmise
  • Livrée avec porte-lame pour lames 76 x 26 mm
  • Inclut l'unité d'affichage PROFILER SCD

Catalogues

Aucun catalogue n’est disponible pour ce produit.

Voir tous les catalogues de Märzhäuser Wetzlar

Salons

Rencontrez ce fournisseur au(x) salon(s) suivant(s)

W3 + Fair
W3 + Fair

23-24 sept. 2026 Jena (Allemagne)

  • Plus d'informations
    SPIE Photonics West San Francisco 2027
    SPIE Photonics West San Francisco 2027

    30 janv. - 04 févr. 2027 San Francisco (USA - Californie)

  • Plus d'informations
    Plus d'informations sur le site de Märzhäuser Wetzlar

    Autres produits Märzhäuser Wetzlar

    Platines de mesure

    * Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.