Microscope de métrologie DCM8

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Système optique 3D de métrologie des surfaces Leica DCM8 Conçu pour vous aider à maximiser l’efficacité, le Leica DCM8 réunit les avantages de la microscopie confocale haute définition et de l’interférométrie en un système polyvalent à double cœur. L’analyse ultra-rapide est assurée grâce à la sélection de mode en un seul clic, à un logiciel sophistiqué et à la numérisation confocale HD sans pièces mobiles. Bénéficiez de la meilleure précision et répétabilité Que vous travailliez en production ou en recherche, le Leica DCM8 fournit les résultats d’analyse métrologique précis et reproductibles dont vous avez besoin pour optimiser les performances des matériaux. Votre surface présente-t-elle des pentes abruptes ou des formes complexes ? Obtenez une résolution verticale jusqu’à 2 nm avec la microscopie confocale HD. Votre surface est-elle lisse avec des micro pics et des vallées ? Choisissez entre trois modes d’interférométrie : l’interférométrie à balayage vertical (VSI), l’interférométrie à déphasage (PSI) ou la PSI étendue (ePSI) pour une résolution allant jusqu’à 0,1 nm. Et si vous avez besoin d’une image HD 2D rapide et brillante, le Leica DCM8 offre des modes en fond clair et en fond noir. Capture rapide des données de surface Le Leica DCM8 utilise une technologie innovante de balayage à micro-affichage HD. Sans pièces mobiles dans la tête du capteur, capture de données rapide et reproductible garantie. La caméra CCD HD intégrée dispose d’un large champ de vision qui permet d’analyser une plus grande partie de votre surface d’échantillon à la fois.