Profilomètre laser VK-X4000

optique3Dconfocal

Présentation
La série VK-X4000 est un microscope de profilage optique 3D qui intègre le confocal laser, l'interférométrie à lumière blanche (WLI) et la variation de mise au point au sein d'une même plateforme métrologique pour des mesures non destructives et haute précision de surfaces et topographies. Le système prend en charge des routines multi-points automatisées et la détection multi-caractéristiques afin d'augmenter le débit tout en limitant les réglages opérateur.

Caractéristiques principales

• Trois principes de mesure dans un seul instrument : Confocal laser, WLI et Focus Variation pour une large couverture de matériaux et géométries.
• Mesure multi-points automatisée : définir des coordonnées cibles et des grossissements pour des mesures en lots sans surveillance.
• Mesure multi-caractéristiques automatique : identification des caractéristiques cibles et application automatique des conditions de mesure pour des résultats cohérents.
• AI-Analyzer : évalue des dizaines de paramètres de surface pour mettre en évidence les métriques qui différencient le mieux des échantillons, facilitant l'analyse.
• Grande polyvalence : adapté aux métaux, films, plastiques, semi-conducteurs, composants médicaux et autres matériaux.

Principes de mesure et points forts

• Confocal laser : adapté aux formes complexes et matériaux variés, délivrant des données 3D localisées sur des géométries difficiles.
• Interférométrie à lumière blanche (WLI) : résolution verticale sub-nanométrique pour les très fins détails de surface et des mesures d'épaisseur précises.
• Focus Variation : capture la texture fine sur de plus grandes surfaces et complète les autres méthodes lorsque la transparence ou la pente limitent les performances.

Mesure multi-points / automatisation

• Configurez plusieurs points de mesure en sélectionnant les cibles ; le système gère automatiquement le positionnement et le choix des objectifs.
• Exécutez des mesures en lots sur plusieurs échantillons et zones sans réglages manuels répétés, réduisant les temps de cycle et la variabilité opérateur.

AI-Analyzer / Analyse de rugosité
L'AI-Analyzer compare de nombreux paramètres de surface (par ex. Ra, Rz et métriques ISO standards) pour identifier les paramètres qui distinguent le mieux les échantillons, simplifiant le choix des métriques de rugosité et accélérant l'interprétation des résultats.

Applications & avantages

• Profilage 3D des surfaces et analyse de rugosité pour l'électronique, l'usinage de précision, films et revêtements, dispositifs médicaux, plastiques, etc.
• Permet l'inspection à haut débit avec des routines automatisées et reproductibles pour le contrôle qualité et les analyses comparatives.
• Combine des méthodes de mesure complémentaires pour traiter quasiment toute surface, des films transparents aux géométries rugueuses et complexes.

Caractéristiques techniques

• Dénomination commerciale : VK-X4000 series
• Principes de mesure : Confocal laser, Interférométrie à lumière blanche (WLI), Focus Variation
• Résolution verticale WLI : sub-nanométrique (pour les très fins détails de surface)
• Mesure multi-points : sélection de coordonnées automatisée et mesure en lots à travers des échantillons
• AI-Analyzer : comparaison automatisée de plusieurs paramètres de surface pour détecter les différences clés
• Mesure multi-caractéristiques automatisée : application automatique des conditions de mesure aux caractéristiques identifiées
• Matériaux compatibles : métaux, films, plastiques, composants semi-conducteurs, pièces médicales, etc.
• Cas d'utilisation principaux : profilage 3D de surface, analyse de rugosité, évaluation d'épaisseur de film, analyse comparative de surface, inspection automatisée à haut débit