Équipement de test de vide VA 2030

pour circuits impriméssur mesurepour applications autonomes

Modèle comme adaptateur individuel sans sets de remplacement interchangeables dans deux dimensions de construction standards VA 2030 et VA 2040. Les interfaces de test se distinguent par leur construction solide à longue durée de vie. Une grande variété de serre-flancs, de capot de vide et de connexions supplémentaires standardisés permettent une extension facile et rapide. Une extension individuelle avec une zone sans vide et un masque de couverture spécifique à l'échantillon est également possible. À côté des interfaces de test sous vide à extension spécifiques des clients, INGUN fournit également des kits d'adaptation individuels. Des accessoires d'extension spécifiques au système de test sont également disponibles à côté des matériels pour l'extension individuelle. Au besoin, nous modifions n'importe quelle interface de test spécialement pour votre projet. Quelle que soit l'application que vous ayez à contrôler – INGUN vous propose la solution de test adaptée. Caractéristiques : Adaptateur simple pour le test FKT / ICT combiné Disponible pour toutes les interfaces de systèmes de test courantes Construction solide à longue durée de vie