Il s'agit d'un équipement qui permet d'évaluer la fiabilité des échantillons en faisant en sorte que l'IGBT / IPM (transistor de puissance intelligent) / DIODE utilise la quantité d'électricité prescrite, puis en effectuant une mise sous tension intermittente à un moment prédéterminé.
La mesure de la résistance thermique peut également être effectuée en même temps. Les données sont envoyées au PC hôte.
Combine les tests IPM et DIODE.
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