Testeur d'isolement 1232

de continuitéde basse résistancepour carte électronique

TESTEUR DE CARTE NU 1232 Système de test par lots de haute précision qui prend en charge les cartes avec dispositifs passifs et actifs intégrés Vue d'ensemble Le 1232 est un testeur de cartes nues qui utilise la gamme complète des technologies de test en circuit de Hioki pour effectuer des tests de fiabilité LSI, des tests complexes de séparation de composants, des tests de continuité et d'isolation élevés, etc. Caractéristiques principales - (Alignement double face)Dimensions des panneaux testables : 50 × 50 à 330 × 330 mm (y compris la zone de serrage) - La prise en charge des cartes de montage qui nécessitent une résistance garantit la combinaison des valeurs de résistance théoriques générées par SIM-LINE avec une mesure de résistance de haute précision à 4 bornes, ce qui assure la fiabilité du modèle - Prise en charge des cartes avec dispositifs passifs et actifs intégrés grâce à l'expertise en matière de mesure développée en relation avec les testeurs en circuit Hioki - Support pour les quarts de panneaux CSP/CPU avec une grande surface de travail de 340 × 330 mm - Soutien aux panneaux flexibles : Le modèle 1232-11 supporte les planches fines jusqu'à 0,05 mm. Des pinces de tension permettent de fixer de manière stable même les panneaux flexibles Aperçu des spécifications Nombre maximum de broches - 4 096 chacune en haut et en bas (comprend un connecteur standard à une seule touche de 4 096 broches) Nombre d'étapes de test - Max. 10,000 Temps de cycle - Mesure à 0,330 sec./pièce (210 μsec. continuité × 1,024, 115 msec. isolation) (*2 048 points terminaux et 1 024 filets par pièce) Diamètre minimal du tampon - φ 10 μm Dimensions des panneaux à fixer/transportables - Épaisseur : 0,05 à 2,5 mm (Toutes les épaisseurs ne sont pas supportées ; contactez HIOKI pour plus d'informations sur les essais de panneaux minces)