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Spectromètre à fluorescence X-RAY XDV-SDD
à fluorescence Xde processpour revêtement

spectromètre à fluorescence
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Caractéristiques

Type
à fluorescence, à fluorescence X
Domaine
de process, pour revêtement, pour l'électronique

Description

Appareil de mesure à fluorescence de rayons X, avec table X/Y programmable et axe Z, pour répondre aux exigences les plus poussées de la mesure automatisée de revêtements très fins et de l'analyse de traces

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Global Industrie 2024
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25-28 mars 2024 París Villepinte (France)

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