Machine d'inspection de PCB AIS 20X-HW

optiqueindustriellepour l'industrie électronique

L'AIS20X de Maker-ray se distingue comme une machine AOI avancée conçue spécifiquement pour les inspections de circuits imprimés. Ce système de pointe intègre des systèmes de vision dotés d'une technologie d'IA de pointe, révolutionnant ainsi le domaine de l'inspection optique automatisée. Offrant une combinaison de programmation intelligente de l'IA et de capacités en ligne/hors ligne, notre machine AOI prend efficacement en charge les PCB mixtes. Grâce à une programmation rapide, une détection précise des composants et des algorithmes intelligents, elle garantit une analyse précise et détecte les composants absents, la polarité et les composants erronés. Programmation intelligente AI Programmation en ligne/hors ligne Prise en charge des circuits imprimés mixtes Entraînement du modèle d'IA 1. Appliquer l'algorithme d'apprentissage profond de l'IA pour obtenir une forte capacité d'inspection：Le réseau d'apprentissage profond crée plusieurs niveaux de couches d'abstraction pour représenter les caractéristiques des données, et les filtre à travers une couche de classification des caractéristiques pour obtenir des résultats d'identification. L'application d'algorithmes d'apprentissage profond dans le domaine de l'inspection industrielle peut résoudre les deux points douloureux des algorithmes traditionnels que sont le temps de programmation long et le taux élevé de fausses alarmes. 2. Recherche automatique de composants / Réglage intelligent des paramètres：Auto search to locate and configure parameter nearly a hundred component types, auto dentify the polarity of resistors, optocouplers, sockets, etc.Programming time 10-20min, debugging time 10-15min 3. Algorithme intelligent d'inspection des anneaux de couleur：Selon l'algorithme d'apprentissage en profondeur, le modèle de résistance des anneaux de couleur et l'image sont introduits dans le réseau en profondeur pour extraire des séquences de caractéristiques à haute dimension, le résultat est obtenu en comparant ces séquences de caractéristiques à haute dimension.