Système de test de circuits intégrés BAT-NEZ-04-V006

de précision

Il s'agit d'un système de test intégré au PCM, adapté à l'évaluation des caractéristiques fondamentales et de protection du PCM dans les batteries Li-ion des ordinateurs portables.Il est principalement utilisé pour télécharger des paramètres, calibrer et tester les fonctions de protection des CI de jauge de gaz de Texas Instruments (BQ20Z45, BQ20Z75, BQ28Z610, BQ3050, BQ3055, BQ3060, BQ40320, BQ40Z55, BQ40Z50, BQ30Z55, BQ34Z100, BQ9000, BQ40Z51, BQ40Z5 , BQ27742 et BQ27741). Dispose d'une conception modulaire multicanal indépendante pour une maintenance et un remplacement faciles, ainsi que d'une variété de fonctions de rapport de données. Tests parallèles de canaux indépendants en même temps, rapides et économisent des ressources