Probe card SmartMatrix

SmartMatrix™ 3000XP permet d'effectuer des tests par contact sur toute la tranche de 300 mm sur les DRAM mobiles et de commodité, la mémoire graphique (GDDR), la mémoire à large bande (HBM) et les dispositifs de mémoire émergents. Spécifiquement développée pour prendre en charge les rampes de conception rapides et les feuilles de route de produits avancés, cette plateforme étend l'architecture Matrix™ éprouvée en production pour prendre en charge le parallélisme accru des cartes de sondes au-delà de 3000 sites par tranche sur un seul contact. Utilisant la technologie ATRE (advanced tester resource enhancement) de FormFactor, à la pointe de l'industrie, l'architecture prend en charge des vitesses de test rapides avec des fréquences d'horloge de 125 MHz et jusqu'à x32 signaux de groupe partagés. Le SmartMatrix 3000XP est capable de tester de -40˚C à 125˚C pour les besoins des semi-conducteurs DRAM. Les hautes performances et les courts délais de livraison de SmartMatrix 3000XP permettent d'optimiser le rendement et d'accélérer la mise sur le marché des DRAM et des dispositifs de mémoire avancés d'aujourd'hui.