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Mesureur d'épaisseur stationnaire 3 nm - 100 µm | F30 series
benchtoppar spectroscopie

Mesureur d'épaisseur stationnaire - 3 nm - 100 µm | F30 series - Filmetrics Inc. - benchtop / par spectroscopie
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Caractéristiques

Type
stationnaire, benchtop
Technologie
par spectroscopie

Description

Mesurez les taux de dépôt, l'épaisseur de film, les constantes optiques (N et k), et l'uniformité des semi-conducteurs et des couches de diélectrique en temps réel avec le système spectral de la réflectivité F30. Couches d'exemple MBE et MOCVD : Des films lisses et translucides, ou légèrement absorbants, peuvent être mesurés. Ceci inclut pratiquement n'importe quel matériel semi-conducteur, d'AIGaN à GaInAsP.

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Ceci est une traduction automatique  (voir l’original en anglais)

* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.