Détecteur de défauts par imagerie NORTEC™700

à courant de Foucaultpour CNDportable

Présentation
Le NORTEC 700 est un détecteur de défauts par courants de Foucault qui regroupe ECT conventionnel et ECA avancé dans un même instrument. Conçu pour les inspections exigeantes en aéronautique, défense et contrôle industriel, il prend en charge l’inspection d’alésages, les essais double fréquence et l’imagerie par réseau tout en simplifiant la mise en service et l’utilisation sur site.

Modèles disponibles

• N700 : Courants de Foucault conventionnels (ECT) pour inspections monofréquence de surface et proches de la surface.
• N700D : Ajoute la double fréquence et des fonctions d’inspection d’alésages améliorées.
• N700i : Intègre ECT et ECA avancé avec imagerie, détection automatique des couches et visualiseur de défauts.

Capacités et avantages principaux

• Plateforme unique combinant ECT et ECA avec préréglages intelligents adaptés aux applications pour des configurations répétables.
• Contrôles hybrides (touchscreen + touches physiques) pour une opération terrain rapide.
• Support des sondes multiéléments nouvelle génération (jusqu’à 256 canaux) et capacité d’array jusqu’à 128 créneaux temporels.
• Fonctions d’inspection d’alésages : mode Freeze, détection automatique des couches et Defect Viewer (N700i).
• Taux d’échantillonnage élevé et filtres flexibles pour inspections manuelles et scanner rotatif.
• Conception robuste : indice IP65 et conformité à des essais mécaniques de type MIL pour la fiabilité en service.

Sondes nouvelle génération
Le support des sondes ECA améliore la répétabilité, homogénéise la qualité du signal entre sondes et simplifie les procédures d’étalonnage. Les modèles array gèrent des nombres élevés de canaux pour une imagerie détaillée.

Inspection d’alésages et détection de couches
La détection automatique des couches et le mode Freeze réduisent les faux positifs lors des inspections d’alésages et multilayers. Le Visualiseur de défauts superpose l’imagerie du scanner pour une localisation précise des indications liées aux fixations.

Connectivité et support sonde
Interfaces standard : connecteur LEMO® 16 broches (compatible POWERLINK™), connecteur BNC ECT avec équilibrage interne automatique, connecteur ECA et connecteur I/O pour intégration. La reconnaissance automatique des sondes et les préréglages accélèrent le déploiement terrain.

Affichage et options de présentation
Écran 7 pouces haute luminosité avec cartographie couleur améliorée et agencement d’affichage sélectionnable : plans d’impédance simple/double, balayage (strip chart), vue 1:1, C-scan, C-scan waterfall, écran partagé et mode tout-en-un jusqu’à trois traces configurables.

Intégration et fiabilité
Le NORTEC 700 s’intègre aux systèmes d’inspection et prend en charge le contrôle à distance via le logiciel PC, ports USB-C et Wi‑Fi/Bluetooth optionnels. Attributs clés : IP65, température de fonctionnement -10 °C à 50 °C, 64 Go de stockage interne, échantillonnage jusqu’à 30 kHz, résolution 32 bits et 3 alarmes indépendantes.

Applications

• Aérospatial : inspections de surface, de roues et d’alésages pour MRO et OEM.
• Défense : inspections de fixations et structures en conditions de terrain.
• Contrôle industriel : soudures, échangeurs de chaleur/tubes, surfaces et contrôles de corrosion.

Caractéristiques / spécifications techniques

• Dimensions boîtier : 230,7 mm × 166,9 mm × 71,9 mm
• Poids : 1,79 kg (avec batterie lithium‑ion)
• Indice IP : IP65
• Batterie : 600-BAT-L-2 (Li‑ion), autonomie ≥ 8 h (ECT standard)
• Température de fonctionnement : -10 °C à 50 °C (80 % HR)
• Écran : 7" TFT LCD (154,2 mm × 85,9 mm, diag. 177,8 mm)
• Alimentation : 24 VDC (60 W)
• Mémoire interne : 64 Go
• Plage de fréquences : 5 Hz – 12,5 MHz
• Gain : 0–100 dB (pas 1 dB)
• Capacité array : jusqu’à 128 créneaux ; sondes prises en charge jusqu’à 256 canaux
• Taux d’échantillonnage : jusqu’à 30 kHz ; résolution : 32 bits
• Connectivité : USB‑C, Wi‑Fi/Bluetooth (optionnels), LEMO I/O 19 broches
• Robustesse : essais de chute, choc et vibration conformes aux méthodes MIL