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Analyseur de faisceau laser haute résolution Beam Profiler 4Mà caméra
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Caractéristiques
- Spécifications
- haute résolution, à caméra
Description
Présentation
Edmund Optics® Profilomètres de faisceau mesurent une large plage de tailles de faisceaux laser et fournissent des données pour optimiser le fonctionnement des systèmes laser. Ils associent capteurs haute résolution et capteurs de grande surface pour permettre un profilage précis des faisceaux petits et grands. Les unités existent en plusieurs tailles de capteur et sont filetées 1" x 32 TPI (C‑Mount) pour une intégration optique standard. Une entrée de déclenchement externe permet la synchronisation avec des lasers pulsés et les interfaces USB 2.0/3.0 assurent des transferts de données rapides.
Principales fonctionnalités
Détails produit (exemple : Edmund Optics Beam Profiler 4M)
Gamme spectrale (nm) : 350 - 1150
Exigences faisceau d'entrée : Minimum 55 μm (10 x 10 pixels)
Zone de détection H x V (mm) : 11.3 x 11.3
Logiciel : USB inclus ; logiciel d'analyse avec affichages 2D/3D/XY, soustraction d'arrière-plan et ajustement gaussien
Remarques
Pilotes logiciels disponibles en téléchargement chez le fabricant. Produits compatibles LabVIEW.
Caractéristiques techniques
Edmund Optics® Profilomètres de faisceau mesurent une large plage de tailles de faisceaux laser et fournissent des données pour optimiser le fonctionnement des systèmes laser. Ils associent capteurs haute résolution et capteurs de grande surface pour permettre un profilage précis des faisceaux petits et grands. Les unités existent en plusieurs tailles de capteur et sont filetées 1" x 32 TPI (C‑Mount) pour une intégration optique standard. Une entrée de déclenchement externe permet la synchronisation avec des lasers pulsés et les interfaces USB 2.0/3.0 assurent des transferts de données rapides.
Principales fonctionnalités
- Capteurs haute résolution pour mesures précises des petits faisceaux
- Options de capteur grande surface pour faisceaux plus larges
- Entrée déclencheur externe pour synchronisation avec lasers pulsés
- Compatibilité USB 2.0 et USB 3.0
- Filetage 1" x 32 TPI (compatible C‑Mount) pour montage optique standard
- Logiciel d'analyse inclus avec affichages 2D, 3D et XY
- Outils logiciels : soustraction d'arrière-plan et ajustement gaussien
Détails produit (exemple : Edmund Optics Beam Profiler 4M)
Gamme spectrale (nm) : 350 - 1150
Exigences faisceau d'entrée : Minimum 55 μm (10 x 10 pixels)
Zone de détection H x V (mm) : 11.3 x 11.3
Logiciel : USB inclus ; logiciel d'analyse avec affichages 2D/3D/XY, soustraction d'arrière-plan et ajustement gaussien
Remarques
Pilotes logiciels disponibles en téléchargement chez le fabricant. Produits compatibles LabVIEW.
Caractéristiques techniques
- Gamme spectrale (ex. modèle) : 350–1150 nm
- Taille minimale mesurable (ex.) : ~55 μm (10 x 10 pixels)
- Zone de détection (ex.) : 11.3 x 11.3 mm
- Montage : filetage 1" x 32 TPI (compatible C‑Mount)
- Déclenchement : entrée déclencheur externe pour lasers pulsés
- Interface : USB 2.0 et USB 3.0
- Logiciel : analyse des profils avec affichages 2D/3D/XY, soustraction d'arrière-plan, ajustement gaussien
- Tailles disponibles : plusieurs options de taille de capteur pour couvrir petits et grands faisceaux
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.