Système de spectroscopie CIP-FICO-II

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Description

► Têtes Tx et Rx indépendantes couplées par fibre optique ► Spectroscopie en temps réel ► Sensibilité à large bande jusqu'à 4.0 THz ► Modes de transmission et de réflexion ► Options de lentilles multiples pour s'adapter à une variété de conditions d'imagerie ► Point de mesure indiqué par un guide laser pour un alignement précis Capacités ► Mesures de réflexion à distance ► Excellent pour les applications spectroscopiques et d'imagerie, y compris les essais non destructifs ► Pénètre de nombreux matériaux diélectriques ► Mesures d'épaisseur et de revêtements ► Platine d'imagerie XY en option pour des mesures d'imagerie rapides et pratiques

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