Système de test de performance HATINA GP

pour applications automobilespour l'industrie électroniquede circuits intégrés

Présentation du produit
HATINA GP est une plateforme ATE (système de test automatisé) destinée à la caractérisation et aux tests de production à haut parallèle des Smart Power IC et SoC. Le système repose sur un mainframe modulaire configurable jusqu'à 10 emplacements, intégrant sources analogiques/power, voies digitales et instruments de mesure avancés dans une plateforme compacte et peu énergivore. Le contrôle s'effectue via une interface graphique intuitive ; le logiciel Kronos permet la génération automatisée de programmes de test pour accélérer la mise au point et la production.

Principales capacités
HATINA GP prend en charge une combinaison d'instruments par slot : canaux digitaux haute vitesse, alimentations DC à fort courant et unités de mesure de précision. Le châssis modulaire facilite la montée en capacité et le remplacement d'instruments. Les ressources par slot incluent E/S digitales haute vitesse, PPMU et charges actives, modules DCS haute intensité, AWG, numériseur et compteurs différentiels. Le système couvre les flux de test en wafer et sur dispositifs encapsulés.

Motifs de choix

• Multiplexeur intégré réduisant la complexité de la load board
• Efficacité de test en parallèle >99% pour limiter le coût du test (COT)
• Instrumentation modulaire alignée sur les évolutions technologiques et marché
• Empreinte réduite et consommation moindre pour optimiser les coûts d'exploitation
• Génération automatisée de programmes de test avec Kronos pour réduire le temps de développement

Aperçu / Cas d'utilisation
Conçu pour les tests en haute parallélisation d'ASIC, PMIC, Smart Power IC/SoC dans les secteurs automobile, industriel et gestion d'énergie. Compatible avec tests au niveau wafer et tests sur dispositifs encapsulés ; simplifie la conception de la load board et s'intègre aux lignes de production automatisées. Ressources typiques par slot : canaux digitaux (jusqu'à 256 CH par slot ; certaines cartes supportent des vitesses supérieures), sources DC haute intensité, modules de mesure de précision, AWG et numériseur.

Résumé des spécifications

• Famille de modèles : HATINA GP (ATE généraliste)
• Mainframe : modulaire, jusqu'à 10 slots
• Dimensions (D×W×H) : 640 mm × 670 mm × 700 mm
• DCS HP : 16 canaux, ±80 V / ±10 A, flottant
• DCS LP : 160 canaux, -80 V / +110 V @ ±200 mA
• DCS MP : 80 canaux, -80 V / +110 V @ ±4 A
• Digital : jusqu'à 256 canaux digitaux par slot ; 256 CH par carte ; PPMU ; charge active
• Mémoire pattern : 64M par pin (jusqu'à 128M)
• Profondeur mémoire : 64M vecteurs DSIO / HRAM par pin
• AWG : 16 canaux, 400 MSPS
• Numériseur / TMS : 16 canaux, 80 MSPS
• Voltmètre différentiel : 16 canaux
• Canaux digitaux par slot : dépendant de la carte (référencé jusqu'à 800 MHz dans la documentation détaillée)
• Logiciel : ensemble d'outils Kronos pour génération automatisée de programmes de test