Plateforme de test pour semi-conducteur FTI-1000 Flexible Power

Aperçu
FTI‑1000 Flexible est une plateforme ATE compacte et modulaire pour le test multisite à haut mix de dispositifs discrets de puissance moyenne en Si et GaN. Conçue pour 8–16 sites, elle offre jusqu'à 1,2 kV et 100 A dans une architecture à faible encombrement, avec ressources DC et AC indépendantes et mesures complètes (caractéristiques DC, ΔVsd, charge de grille, résistance de grille, commutation inductive).

Axes clés / positionnement

• Conçue pour s'adapter — architecture modulaire permettant une reconfiguration rapide selon les types de composants et les exigences de test.
• Haut débit — architecture 8 sites et séquençage de test optimisé pour réduire le temps de cycle en production mixte.
• Efficacité opérationnelle — faible encombrement et changements de configuration rapides pour usage R&D et production automatisée.

Applications
Test final et caractérisation pour dispositifs discrets automobiles, industriels et à large bande interdite (Si / GaN) ; validation engineering, essais UIS/avalanche et caractérisation de la grille.

Intégration & logiciel
L'ouverture mécanique et la modularité permettent la compatibilité avec handlers pick‑and‑place, gravity‑feed et leadframe strip. Le développement et le debug des tests s'effectuent via FTI Studio avec capture de formes d'onde, génération automatique de fiches techniques, schmoo plots et outils d'analyse paramétrique.

Remarques produit
L'architecture modulaire Tester‑per‑Channel Board fournit des ressources AC et DC configurables au sein d'une plateforme évolutive. Options plug‑in et éléments mécaniques/électriques modulaires permettent l'extension (extensions HV, modules d'impulsions haute intensité, digitizers, modules de mesure Rg).

Caractéristiques / spécifications techniques

• Famille de plateforme : FTI‑1000 Flexible
• Nombre de sites de test : 8-16
• Tension de commutation max (AC / DC) : 1,2 kV
• Courant de commutation / DC max : 100 A
• Capacité énergie court‑circuit : >10 J
• Plage de tension de grille : ±25 V
• Tests paramétriques DC (exemples) : Rdson, Idon, Vce(sat), Vgs, Gfs, Igss, Idss, BVdss
• Mesures oxide de grille et qualité : Rg, Cg, Qg
• Indicateur qualité die‑attach thermique : dVsd / Vgs
• Metrics UIS / avalanche / diode de corps : UIL, EAR, EAS
• Canaux numériques : option pour 8 canaux numériques indépendants (IC Channel Board)
• Options résistance de grille : 0, 10, 25, 50 Ω plus résistance user‑pluggable
• Inductance de charge : inducteurs discrets plug‑in ou boîtier d'inductance sélectionnable
• Source DC – tension (HV) : 1,2 kV ; exemple plage de pilotage courant HV : 25 mA
• Capacité nominale courant (DC/AC) : 100 A
• Dimensions (globales) : 541 mm × 345 mm × 206 mm • Alimentation : 345 mm × 176 mm × 103 mm
• Logiciel (FTI Studio) : capture de formes d'onde, génération automatique de fiches techniques, schmoo plotting, analyse paramétrique, création/debug de programmes de test
• Compatibilité handlers : pick‑and‑place, gravity‑feed, leadframe strip et autres handlers automatisés standards