Testeur de fuite FTI-1000 Lab

de tensionhaute tensionpour pièces électroniques

Présentation Le FTI-1000 Lab est une plateforme de caractérisation exclusivement DC destinée aux dispositifs de puissance moyenne en silicium (Si) et aux composants wide-bandgap (GaN). Elle fournit un stimulus DC programmable jusqu'à 1,2 kV et 100 A, permettant l'extraction précise des paramètres électriques statiques et le traçage IV en haute résolution. La configuration Lab utilise des instruments DC dédiés — modules source haute tension et haute intensité, mesures en nanoampères et polarisation flexible — pour couvrir une large gamme de balayages IV et de tests paramétriques sans la complexité AC ou de commutation dynamique. FTI Studio offre une interface intuitive pour un paramétrage rapide, l'acquisition d'ondes, le traçage schmoo et la création de programmes de test.

Applications

• Laboratoires R&D
• Qualification de dispositifs
• Flux de validation et caractérisation en ingénierie

Capacités clés et optimisations

• Stimulus DC programmable jusqu'à 1,2 kV et 100 A
• Optimisé pour mesures de fuite haute tension, avalanche/breakdown, tension de seuil et résistance à l'état passant (Rds(on))
• Alimentation DC stable et répétable avec contrôle de mesure précis
• Architecture modulaire et évolutive avec faible encombrement pour laboratoire
• Compatible avec un large éventail de boîtiers discrets et le développement de dispositifs wide-bandgap

Spécifications tableau Nombre de sites de test : 1
Tests paramétriques DC : Rdson, Idon, Vce(sat), Vgs, Gfs, Igss, Idss, BVdss, etc.
Qualité d'assemblage thermique : dVsd/Vgs
Dimensions D×L×H : 541 mm × 345 mm × 206 mm (Alimentation : 345 mm × 176 mm × 103 mm)
Canaux numériques : option 8 canaux numériques indépendants (IC Channel Board)
Tension source DC : 1,2 kV
Plage de pilotage de courant (HV) : 25 mA (selon module)
Courant maximum : 100 A
Résistances de grille : 0, 10, 25, 50 Ω, plus résistances enfichables utilisateur

Logiciel FTI Studio propose une interface intuitive pour un paramétrage rapide, l'acquisition de formes d'onde, le tracé schmoo et la création de programmes de test, facilitant la transition rapide du bring-up du dispositif à sa caractérisation complète.

Caractéristiques / spécifications techniques

• Nombre de sites de test : 1
• Tests paramétriques DC pris en charge : Rdson, Idon, Vce(sat), Vgs, Gfs, Igss, Idss, BVdss et mesures IV/paramétriques similaires
• Métrique d'assemblage thermique : dVsd/Vgs
• Dimensions : 541 mm × 345 mm × 206 mm
• Dimensions de l'unité d'alimentation : 345 mm × 176 mm × 103 mm
• Tension DC maximale : 1,2 kV
• Plage de pilotage de courant haute tension (module spécifique) : 25 mA
• Capacité de courant maximale : 100 A
• Canaux numériques : option 8 canaux numériques indépendants (IC Channel Board)
• Options de résistance de grille : 0, 10, 25, 50 Ω plus résistances enfichables par l'utilisateur
• Architecture : configuration modulaire et évolutive optimisée pour les laboratoires
• Dispositifs ciblés : dispositifs Si de puissance moyenne et dispositifs wide-bandgap (GaN)
• Fonctionnalités logicielles : acquisition d'ondes, tracé schmoo, création de programmes de test, paramétrage rapide