Système de test de performance VIP EXTENDED
d'impédancepour la recherche et développementpour l'aérospatiale

Système de test de performance - VIP EXTENDED - Cosmic Equipment S.p.A. - d'impédance / pour la recherche et développement / pour l'aérospatiale
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Caractéristiques

Type de tests
de performance, d'impédance
Domaine
pour la recherche et développement, pour l'aérospatiale, pour l'industrie électronique, pour applications automobiles
Applications
pour IGBT, pour semiconducteurs, MOSFET, de circuits intégrés de gestion de l'alimentation
Forme
modulaire, compact
Autres caractéristiques
automatique, de courant fort, de précision, multicanal

Description

Aperçu
VIP Extended est un système d'Équipement de Test Automatique (ATE) configurable pour le test parallèle de dispositifs de puissance en silicium, SiC et GaN. Conçu pour les environnements wafer sort, strip test, pick & place et handler à gravité, il prend en charge jusqu'à 48 sites de test parallèles afin d'augmenter le débit et de réduire le coût par test.

Caractéristiques principales
  • ATE configurable pour produits de puissance et circuits driver (IC driver, IGBT, Power MOSFET, Power IC)
  • Jusqu'à 48 sites de test parallèles pour un haut rendement (UPH)
  • Grande densité de ressources et architecture modulaire pour une intégration flexible en ligne
  • Instruments de mesure intégrés : TMU, picoampèremètres, LCR, PPMU et modules sink/source haute intensité


Motifs / Avantages
  • Adapté aux flux wafer sort et strip test
  • Mesures parallèles de Rg, Cg et UIS sur jusqu'à 48 sites
  • Réduction du coût de test (COT) grâce à la densité de canaux et aux options modulaires


FONCTIONNALITÉS — VIP Extended
D×L×H : 640 mm × 600 mm × 350 mm
DCS MP : 48 channels, ±80 V @ ±4 A
Alimentation haute tension (std) : 80 V / 250 A (48 sites)
Module Load Prog : jusqu'à 48 canaux sink/source haute intensité jusqu'à 250 A / 80 V + TMU et circuits de mesure différentiels
Canaux numériques : jusqu'à 320 canaux numériques ; jusqu'à 64 PPMU
Driver numérique flottant : jusqu'à 48 drivers, plage -5 V à 18 V
Charges inductives & résistives : solutions sur cartes personnalisées
Mesures LCR : jusqu'à 48
Picoampèremètre : jusqu'à 48 picoampèremètres ; plage 2 nA–2 µA, précision jusqu'à ±20 pA
Mesures temporelles : TMU 48 canaux
Instruments additionnels : jusqu'à 64 PPMU, 48 picoampèremètres, jusqu'à 48 LCR, cartes de charge inductive/résistive
Armoire : armoire compacte adaptée aux lignes de production (350 × 600 × 640 mm)

Applications
  • Wafer sort
  • Strip test
  • Pick & place
  • Handler à gravité
  • Marchés : automobile, électronique grand public, industriel, aérospatial et MEMS


Spécifications techniques
  • Sites parallèles : jusqu'à 48
  • Ressources DC quatre-quadrants : jusqu'à 48 unités, ±80 V, ±4 A
  • Alimentation haute tension (standard) : 80 V / 250 A (48 sites)
  • Canaux sink/source haute intensité : jusqu'à 48 canaux, jusqu'à 250 A / 80 V
  • TMU : unité de mesure temporelle 48 canaux
  • Ressources numériques : jusqu'à 320 canaux numériques ; mémoire pattern 2 M vecteurs
  • PPMU : jusqu'à 64 unités programmables
  • Drivers numériques flottants : jusqu'à 48, plage -5 V à 18 V
  • Mesures LCR : jusqu'à 48
  • Picoampèremètres : jusqu'à 48, plage 2 nA–2 µA, précision jusqu'à ±20 pA
  • Charges inductives & résistives : implémentations sur cartes personnalisées
  • Empreinte armoire : 350 × 600 × 640 mm (compacte pour intégration en production)

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    * Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.