Blaze est la toute dernière technologie de détection développée par CIMS. Au cœur de l’inspection des semi-conducteurs, elle est à la base de nos dernières solutions d’inspection destinées aux secteurs du conditionnement et de la microélectronique.
Les capacités uniques de Blaze™ permettent une inspection hautement fiable d’une large gamme de produits microélectroniques de pointe, une intégration complète des données avec d’autres processus, ainsi qu’une compatibilité avec divers protocoles avancés d’échange de données couramment utilisés dans l’industrie des semi-conducteurs.
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