Spectromètre FT-IR CryoSAS
pour R&Drobustede grande sensibilité

spectromètre FT-IR
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Caractéristiques

Type
FT-IR
Domaine
pour R&D
Autres caractéristiques
robuste, de grande sensibilité

Description

Le système CryoSAS (Cryogenic Silicon Analysis System) est un ensemble complet qui permet d'analyser les impuretés du silicium à basse température(<15K). Le CryoSAS a été optimisé en vue d'un fonctionnement en milieu industriel. Le CryoSAS associe un spectromètre IRTF performant intégré et un ensemble de refroidissement en circuit fermé sans apport d'hélium liquide. Le CryoSAS intègre des composants à la pointe de la technologie afin de faire des analyses de silicium dans un milieu exigeant. Le CryoSAS est opérationnel avec une automatisation élevée en incluant la production de rapports précis sur les résultats de chaque analyse.

Salons

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Ilmac Lausanne

18 sept. 0204 - 19 sept. 2024 Lausanne (Suisse)

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    analytica 2024
    analytica 2024

    9-12 avr. 2024 M&#252;nchen (Allemagne) Hall A2 - Stand 314

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