Microscope AFM Dimension HPI

pour analysepour la recherchede mesure

Conçu spécifiquement pour les environnements de production à haut volume, le système Dimension HPI permet d'automatiser les mesures de nombreux modes AFM tout en garantissant la plus grande facilité d'utilisation et le plus faible coût par mesure pour le contrôle qualité, l'assurance qualité et l'analyse des défaillances. En utilisant les techniques de contact, de tapotement et de mode PeakForce Tapping, Dimension HPI permet aux utilisateurs de contrôler précisément l'interaction entre la sonde et l'échantillon, assurant ainsi une longue durée de vie de la pointe avec des résultats de haute précision sur des milliers de mesures. Innovant Tapping PeakForce Minimise la force latérale sur la sonde pour protéger l'échantillon, prolonger la durée de vie de la sonde et obtenir des mesures plus cohérentes. Exclusif Sondes AFM FastScan exclusives Fournissent le coût le plus bas par mesure et garantissent les données les plus fiables. Facile à utiliser logiciel automatisé Fait de chaque utilisateur un expert en AFM et assure la cohérence entre les opérateurs. La plus large gamme de mesures Des modes exclusifs PeakForce Tapping aux modes AFM traditionnels, Dimension HPI offre la plus grande gamme et la plus grande flexibilité pour répondre aux besoins spécifiques de métrologie de fabrication sur une large gamme d'échantillons, sans la complexité habituellement associée aux configurations de recherche AFM. Métrologie nanoélectrique rapide La technologie FastScan avec Conductive-AFM (CAFM) permet d'effectuer des mesures de courant à l'échelle nanométrique à des vitesses de balayage élevées, ce qui augmente considérablement l'efficacité des mesures d'analyse des défaillances. En utilisant un petit cantilever de microscopie à force magnétique (MFM), FastScan HPI permet d'améliorer de plus de 10 fois la vitesse de balayage pour les applications MFM avec une qualité de données exceptionnelle grâce à PeakForce Tapping. PeakForce KPFM™ fournit la plus haute résolution spatiale et les mesures les plus précises du potentiel de surface.