Microscope à balayage de sonde Dimension XR
pour la recherchede mesurenanoscope

microscope à balayage de sonde
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Caractéristiques

Type
à balayage de sonde
Applications
pour la recherche, de mesure
Technique d'observation
nanoscope
Autres caractéristiques
haute résolution, SPM, pour semi-conducteur, pour nanotechnologie
Résolution spatiale

Max: 100 nm

Min: 0 nm

Description

Systèmes de recherche extrême pour la nanomécanique, la nanoélectricité et la nanoélectrochimie Les systèmes de microscope à sonde à balayage (SPM) Dimension XR de Bruker intègrent des décennies de recherche et d'innovation technologique. Avec une résolution de routine des défauts atomiques et un grand nombre de technologies uniques, dont le PeakForce Tapping®, les modes DataCube, le SECM et l'AFM-nDMA, ils offrent les meilleures performances et capacités. La famille de SPM Dimension XR regroupe ces technologies dans des solutions clés en main pour répondre aux applications nanomécaniques, nanoélectriques et électrochimiques. La quantification des matériaux et des systèmes actifs à l'échelle nanométrique dans des environnements aériens, fluides, électriques ou chimiquement réactifs n'a jamais été aussi facile. Hyperspectral caractérisation nanoélectrique hyperspectrale Comprend la gamme la plus complète de techniques AFM électriques pour la caractérisation des matériaux fonctionnels, des semi-conducteurs et de la recherche énergétique. Sub-100nm imagerie électrochimique Fournit la solution totale à haute résolution pour l'analyse quantitative de l'activité électrochimique locale associée aux batteries, aux piles à combustible et à la corrosion. Prêt à l'emploi analyse nanomécanique Offre une suite de techniques clés en main, entièrement quantitative, pour corréler la structure et les propriétés nanomécaniques des matériaux. DES CAPACITÉS AFM UNIQUES ET INÉDITES POUR DES PERFORMANCES OPTIMALES Configurations optimisées pour la recherche avancée XR Nanomechanics XR Nanomechanics offre une gamme de modes permettant de détecter de manière exhaustive les plus petites structures avec une résolution spatiale allant jusqu'aux unités sub-moléculaires des chaînes de polymères. Les chercheurs mettent en corrélation les données nanomécaniques avec les méthodes de DMA et de nanoidentification en vrac grâce à notre mode AFM-nDMA™ exclusif.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.