Microscope à force atomique Icon-Raman

de mesureconfocalde paillasse

Le système Icon AFM-Raman réunit les techniques complémentaires de la microscopie à force atomique et de la microscopie Raman pour fournir des informations essentielles sur la topographie et la composition chimique d'un échantillon. Lorsque ces techniques sont renforcées par des modes AFM avancés, tels que la caractérisation électrique PeakForce TUNA™ et la cartographie nanomécanique quantitative PeakForce QNM® exclusives à Bruker, les chercheurs sont en mesure de mieux comprendre les mécanismes qui conduisent à des propriétés matérielles spécifiques. Corrélation entre Données AFM et u-Raman corrélées Permet des mesures co-localisées avec une efficacité et une facilité inégalées. Avancé AFM avancés Aident les chercheurs à mieux comprendre les mécanismes qui conduisent à des propriétés matérielles spécifiques. Éprouvé Plate-forme Dimension Icon Établit un nouveau standard de performance pour les capacités de recherche micro-Raman. Stabilité et flexibilité de la configuration Le système AFM-Raman, composé de l'AFM Dimension Icon® et d'un microscope confocal Raman de qualité recherche (Horiba, LabRam), se trouve sur une plateforme unique, rigide et anti-vibration. Cette configuration permet au système de conserver toutes les fonctionnalités de chaque instrument individuel, offrant ainsi des performances combinées optimales. Par exemple, la configuration permet de bénéficier de toutes les mises à niveau d'Icon, des modes AFM et des fonctions de facilité d'utilisation, y compris ScanAsyst®, une exclusivité Bruker. Vous êtes en mesure d'adapter la combinaison de modes la plus efficace pour votre application. Intégration transparente de la technique et de l'analyse En quelques secondes, un échantillon peut être transféré entre les deux techniques sans perturbation.