Microscope à force atomique Dimension Icon®
de mesureindustrielpour l'analyse de matériau

microscope à force atomique
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Caractéristiques

Type
à force atomique
Applications
de mesure, industriel, pour l'analyse de matériau
Configuration
de paillasse
Autres caractéristiques
haute résolution, automatisé, à haute vitesse, de dureté par nanoindentation, pour essai de rayure

Description

Dimension Icon® de Bruker apporte les plus hauts niveaux de performance, de fonctionnalité et d'accessibilité AFM aux chercheurs de l'échelle nanométrique dans la science et l'industrie. S'appuyant sur la plateforme AFM grand échantillon la plus utilisée au monde, elle est l'aboutissement de décennies d'innovation technologique, de retour d'expérience des clients et de flexibilité d'application à la pointe de l'industrie. Le système a été conçu de fond en comble pour offrir une faible dérive et un faible bruit révolutionnaires qui permettent aux utilisateurs d'obtenir des images sans artefact en quelques minutes au lieu de quelques heures. La plus haute performance scanner à pointe Offre une résolution inégalée pour les grands échantillons avec des niveaux de bruit en boucle ouverte, un plancher de bruit réduit et des taux de dérive <200 pm. Facile productivité Offre une configuration étonnamment simple, un flux de travail intuitif et un délai d'obtention des résultats rapide pour des données de qualité de publication à chaque fois. Polyvalent plateforme en libre accès S'adapte à la plus grande variété d'expériences, de modes, de techniques et de mesures semi-automatiques. Performance et résolution maximales La résolution supérieure de Dimension Icon, associée aux algorithmes de balayage électronique exclusifs de Bruker, offre à l'utilisateur une amélioration significative de la vitesse et de la qualité des mesures. L'Icon est l'aboutissement de la technologie AFM de pointe à balayage de Bruker, à la pointe de l'industrie, intégrant des capteurs de position à compensation thermique pour obtenir des niveaux de bruit inférieurs à l'angström sur l'axe Z et à l'angström sur l'axe XY. Il s'agit d'une performance extraordinaire pour un système de balayage de 90 microns à grand échantillon, qui surpasse les niveaux de bruit en boucle ouverte des AFM haute résolution.

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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.