Profilomètre optique ContourX-200
3Dconfocalavec interférométrie en lumière blanche

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Caractéristiques

Technologie
optique, 3D, avec interférométrie en lumière blanche, confocal
Applications
pour contrôle
Configuration
de paillasse, compact
Autres caractéristiques
sans contact, à grande vitesse

Description

Table de travail flexible pour la métrologie de l'état de surface ContourX-200 Le profilomètre optique ContourX-200 offre un mélange parfait de caractérisation avancée, d'options personnalisables et de facilité d'utilisation pour une métrologie des surfaces 3D sans contact rapide, précise et reproductible. Ce système à faible encombrement, compatible avec les jauges, offre des capacités de mesure haute résolution 2D/3D sans compromis, grâce à une caméra numérique 5 MP à large champ de vision et à une nouvelle platine XY motorisée. Doté d'une résolution et d'une précision inégalées sur l'axe Z, le ContourX-200 offre tous les avantages reconnus par l'industrie de la technologie d'interférométrie en lumière blanche (WLI) brevetée par Bruker, sans les limitations des microscopes confocaux conventionnels et des profileurs optiques standard concurrents. Les capacités d'automatisation de l'automatisation Permet des routines de mesure et d'analyse plus rapides. Platine XY XY motorisée Offre un fonctionnement à faible bruit et à grande vitesse pour la métrologie quantitative. Tolérance aux vibrations compact tolérant aux vibrations Offre une stabilité de mesure et une répétabilité compatible avec les jauges. CARACTÉRISTIQUES Métrologie sans compromis, la meilleure de sa catégorie S'appuyant sur plus de quatre décennies d'innovations exclusives de WLI, le profilomètre optique ContourX-200 présente un faible niveau de bruit, une grande vitesse, une exactitude et une précision qui sont indispensables à la métrologie quantitative. Grâce à l'utilisation d'objectifs multiples et à la reconnaissance intégrée des caractéristiques, les caractéristiques peuvent être suivies sur une variété de champs de vision et à une résolution verticale inférieure au nanomètre, fournissant des résultats indépendants de l'échelle pour le contrôle de la qualité et les applications de surveillance des processus dans des industries très diverses. ContourX-200 est robuste dans toutes les situations de surface, de 0,05 % à 100 % de réflectivité.

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ACHEMA 2024
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10-14 juin 2024 Frankfurt am Main (Allemagne)

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