Diffractomètre à rayons X D8 DISCOVER

XRDSAXSGISAXS

La solution DRX la plus polyvalente et la plus flexible pour répondre parfaitement aux exigences de la recherche, du développement et du contrôle qualité dans l’industrie et le milieu universitaire. Le D8 DISCOVER est le fleuron des diffractomètres de rayons X polyvalents offrant des composants technologiques de pointe. Il est conçu pour la caractérisation structurale de la gamme complète des matériaux, des poudres aux matériaux amorphes et polycristallins en passant par les couches minces épitaxiées, dans des conditions ambiantes et non ambiantes. Applications : Identification et quantification de phase, détermination et affinement de structure, analyse de la taille des cristallites et des micro-contraintes. Réflectométrie des rayons X (XRR), Diffraction en incidence rasante (GID), diffraction dans le plan (IPGID), DRX haute résolution (HRXRD), diffusion aux petits angles en incidence rasante (GISAXS), contrainte résiduelle en incidence rasante, orientation crystalline. Analyse de la contrainte résiduelle, texture et figures de pôle, micro-diffraction, diffusion des rayons X aux grands angles (WAXS), Analyse de diffusion totale : Diffraction de Bragg, fonction de distribution de paires (PDF), diffusion des rayons X aux petits angles (SAXS)