Spectromètre XRF M4 TORNADO PLUS
de laboratoirede mesure

Spectromètre XRF - M4 TORNADO PLUS - Bruker AXS - de laboratoire / de mesure
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Caractéristiques

Type
XRF
Domaine
de laboratoire, de mesure
Longueur

350 mm
(13,78 in)

Largeur

600 mm
(23,62 in)

Hauteur

260 mm
(10,24 in)

Description

Avec le dernier modèle de la famille micro-XRF de Bruker, vous pouvez en savoir plus sur votre échantillon que l'XRF ne vous l'a jamais montré. Avec ses détecteurs d'éléments super-légers, le M4 TORNADO PLUS est le premier scanner micro-XRF capable de mesurer tous les éléments à partir du carbone. De plus, la performance de tous les éléments légers est fortement augmentée. Sur cet instrument, Bruker a introduit le système breveté de gestion de l'ouverture (AMS) qui améliore la profondeur de champ de la lentille polycapillaire pour des cartographies d'éléments plus nettes sur des échantillons irréguliers. La deuxième source de rayons X optionnelle étend encore les capacités analytiques avec ses quatre tailles de spot sélectionnables de 0,5 à 4,5 mm. Plus léger, plus rapide, plus profond. La chambre de la famille M4 TORNADO offre une option de rinçage à l'He. Cette option augmente les performances de l'élément lumineux tout en maintenant la pression atmosphérique dans la chambre. Les éléments lumineux présents dans des échantillons biologiques ou humides peuvent être analysés sans qu'il soit nécessaire de congeler ou de sécher les échantillons. Bénéficiez du PLUS en matière de performance analytique Mesurez des solides, des particules ou des liquides avec tous les avantages que la famille M4 TORNADO, qui a fait ses preuves, a à offrir Élargissez votre expérience du micro-XRF avec la possibilité d'enregistrer des spectres, des balayages linéaires et des cartes de la gamme complète d'éléments, en commençant par le carbone Enregistrez et sauvegardez une combinaison d'images optiques et d'informations spectrales complètes par pixel dans un cube de données HyperMap Réduisez votre temps de mesure grâce à la combinaison d'un faisceau de rayons X focalisé et de deux détecteurs SD à haut débit pour les éléments super légers Obtenez des résultats de quantification rapides grâce à une routine de paramètres fondamentaux configurable ou utilisez le logiciel XMethod de Bruker pour des résultats de quantification standard

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10-12 sept. 2025 Shenzhen (Chine)

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    K 2025

    8-15 oct. 2025 Düsseldorf (Allemagne) Hall Salle 11 - Stand A59

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