PrésentationLa série BeVision D3 est un système d'analyse de taille et de forme des particules entièrement automatisé basé sur la technologie d'analyse d'image dynamique (DIA), conçu pour caractériser avec précision poudres, granulés et matériaux particulaires sur une large plage de tailles.
Principales caractéristiques et avantages- Plage de mesure : 0,5 μm – 26 mm
- Plus de 37 paramètres de taille et de forme pour une caractérisation complète
- Rendement élevé : temps d'essai typique ~3 minutes
- Double caméras CMOS haute résolution pour capture simultanée grossière et fine
- Analyse par image conforme aux normes ISO 13322-2 et ISO 9276
- Flux de travail automatisé, maintenance quasi nulle et récupération complète de l'échantillon
- Module de corrélation tamis intégré pour comparabilité avec l'analyse par tamis
- Détection précise des particules hors-/sous-taille
Logiciel BeVision DIA convivialLe logiciel BeVision DIA offre une plateforme complète d'analyse de données avec plusieurs modes de mesure (manuel, automatique, hors ligne), filtrage et sélection avancés, ré-analyse sans nouvelle mesure, comparaison multi-paramètres, formats de rapport personnalisables et modèles définis par l'utilisateur.
Aperçu du logicielBarre d'information — affiche les métadonnées d'échantillon et d'essai ; basculer entre distributions volume/aire/nombre
Graphique de distribution — histogrammes et classifications personnalisables pour distributions par taille ou forme
Nuage de points — évaluation 2D (ex. taille vs forme) pour identification de tendances, clusters et analyses de mélanges
Barre de fonctions — accès rapide : ajouter graphique, visualiser images brutes, ré-analyser, filtrage/sélection, exporter rapports
Statistiques clés — moyenne, écart, D10/D50/D90 et métriques définies par l'utilisateur
Galerie de particules — images capturées, triables par taille ou forme
Détails particule — visualiser les données complètes de taille et de forme pour chaque image
Paramètres de taille et de forme des particulesParamètres de tailleDiamètres équivalents (aire/périmètre) ; diamètres de Feret (max/min, XLF) ; diamètres de Martin (max/min) ; axes de l'ellipse de Legendre (grand/petit) ; longueur géodésique ; épaisseur ; chord minimum ; rectangle circonscrit (diamètres long/court)
Paramètres de formeRapport d'aspect, longueur/largeur, rapport axes de l'ellipse ; circularité (plusieurs algorithmes), irrégularité, compacité, étendue, ratio boîte ; concavité, convexité, solidité ; allongement, rectitude
Fonctions spéciales- Système à double CMOS permettant la caractérisation en une seule mesure de distributions de taille étendues
- Analyse de mélanges et mesure d'épaisseur pour particules feuilletées
- Mesure longueur/largeur pour particules allongées
Conformité et normesConçu pour répondre aux exigences ISO 13322-2 et ISO 9276 pour l'analyse d'image des particules.
Caractéristiques techniques- Plage de mesure : 0,5 μm – 26 mm
- Paramètres : 37+ métriques de taille et forme (aire/périmètre, Feret, Martin, axes d'ellipse, longueur géodésique, épaisseur, rapport d'aspect, circularité, convexité, solidité, etc.)
- Temps d'essai typique : ~3 minutes
- Caméras : double CMOS haute résolution pour capture grossière + fine
- Fonctionnement : flux de travail entièrement automatisé avec logiciel BeVision DIA (modes manuel, automatique, hors ligne)
- Sorties données : rapports personnalisables, formats d'export multiples et modèles
- Fonctions spéciales : module de corrélation tamis, analyse de mélanges, mesure d'épaisseur pour particules feuilletées, filtrage/sélection de particules
- Manipulation échantillon : récupération complète de l'échantillon, faible maintenance
- Normes : ISO 13322-2, ISO 9276