PrésentationLe Bettersizer 2600 Plus associe diffraction laser et imagerie dynamique à double caméra sur une plate‑forme modulaire afin d'apporter des caractérisations complémentaires de la taille et de la forme des particules sur une large plage de mesures (env. 0,02–3500 μm, dépendant de l'application). Le système accepte des configurations de dispersion humide et sèche pour différents types d'échantillons et volumes.
Principales fonctionnalités et avantages- Analyse intégrée taille/forme : diffraction laser pour des distributions de taille statistiques et imagerie double caméra pour des métriques particule‑à‑particule et une traçabilité visuelle.
- Large plage de mesure : couverture des fins submicroniques aux particules grossières sur une même plate‑forme (selon application).
- Dispersion modulaire : unités interchangeables humide/sèche pour une préparation d'échantillons flexible et compatibilité solvants.
- Nombre élevé de détecteurs et collecte angulaire étendue pour des PSD robustes sur de larges gammes de tailles.
- Preuves d'image : les images de particules permettent d'identifier agrégats, particules surdimensionnées et morphologies irrégulières pour les processus QC et R&D.
Système avancé de diffraction laserLe module de diffraction laser capture des signaux de diffusion complets grâce à une architecture optique brevetée Fourier/inverse‑Fourier et une matrice de 92 détecteurs. L'analyse utilise les modèles de Mie et Fraunhofer selon le cas pour obtenir des distributions de taille reproductibles.
Confiance pour échantillons optiquement difficilesL'appareil inclut une capacité de mesure d'indice de réfraction pour valider les données optiques destinées au modèle de Mie, améliorant la confiance pour des matériaux optiquement complexes ou inconnus.
Points clés de performance- Couverture de la plage de mesure des particules fines aux particules grossières ; mesures complètes possibles en ~10 s (selon application).
- Conception visant précision et répétabilité adaptées aux besoins QA/QC et R&D (exemples rapportés < 0,5 % quand applicable).
Système d'imagerie dynamique à double caméraLe module d'imagerie PIC‑1 capture des images particulaires à grande vitesse pendant la mesure pour fournir paramètres de taille et de forme et images traçables. Modes disponibles : imagerie seule et imagerie + diffraction laser intégrée.
Conception modulaire et flexibilité de dispersionLa plate‑forme prend en charge diverses unités de dispersion humides et sèches pour s'adapter à différents matrices d'échantillons, volumes et solvants, permettant à un seul instrument de couvrir plusieurs applications industrielles.
Logiciel et donnéesLes mesures combinées fournissent des sorties complémentaires de taille et de forme dans un jeu de données unique. Les images particulaires et les statistiques dérivées sont exportables pour pistes d'audit, documentation QC et analyses morphologiques avancées.
Caractéristiques techniques- Modèle : Bettersizer 2600 Plus
- Technologie : diffraction laser + imagerie dynamique à double caméra (modulaire)
- Capacité globale : nominalement 0,02–3500 μm (selon configuration et application)
- Plage diffraction laser typique : 0,02–2600 μm (selon système)
- Imagerie dynamique (PIC‑1) : 2–3500 μm
- Détecteurs : matrice 92 détecteurs
- Couverture angulaire : ~0,016°–165°
- Cellule d'échantillon : conception inclinée pour réduire la réflexion interne totale
- Grossissements d'imagerie : 0,5× et 10× ; fréquence : 70 fps
- Temps de mesure rapporté : mesures complètes en ~10 s (selon application)
- Précision / répétabilité : rapportées < 0,5 % (le cas échéant)
- Sorties d'imagerie : jusqu'à 32 paramètres de taille et de forme et images de particules
- Dispersion : unités modulaires humides et sèches prises en charge
- Normes : diffraction laser conçue pour répondre à ISO 13320 selon application
- Système optique : optique brevetée Fourier / inverse‑Fourier
- Fabricant : Bettersize Instruments