Microscope optique CW2010-DIC

de mesureà contraste interférentiel différentiel

Caractéristique : 1.Converter：Five-trou, chaque trou ajustant la mise au point et le centre de répartition.éliminer les erreurs pour assurer l'exactitude.（Exclusive patent） patent） 2.L'axe Z utilise le principe de l'image Split-image observé measurement，To combine la précision du rail de l'axe Z qu'il peut conserver, peut garantir efficacement la précision de la mesure. 3.Le prisme DIC peut se déplacer horizontalement et vertical， l'image en relief formée par la lumière polarisée linéairement des deux directions produira un fort troisdimensional。This ne peut pas être atteint dans un système optique normal. 4.Longue distance de travail 5.La source lumineuse peut choisir une source de lumière froide à LED ou à fibre optique 6.Toutes les pièces et l'assemblage du système optique sont des composants importés. Par des ingénieurs techniques à l'étranger contrôleur d'accès, mise en service et progiciel de contrôle technique du système DICParamètres techniques Application : CW2010-DIC est Infinity optical system，Suitable pour le contrôle de la qualité de l'emballage des puces, l'observation et la mesure des petites protubérances et des égratignures mineures. Largement utilisé dans l'électronique, les matériaux, la chimie et d'autres domaines de recherche et d'essais. Est l'instrument idéal pour la recherche et l'enseignement dans les institutions de recherche et les universités.