Logiciel de supervision AvaSoft-Thinfilm

de qualitéde commandede base de données ODBC

Le logiciel AvaSoft-Thin-Film, inclus dans notre offre pour les couches minces, est un logiciel autonome qui permet de contrôler le système et d'effectuer des mesures sur les couches minces. Le logiciel calcule l'épaisseur d'une couche à partir du spectre d'interférence de réflexion pour des couches optiquement transparentes dont les paramètres optiques sont connus. Deux méthodes différentes de calcul des couches minces sont mises en œuvre dans le logiciel AvaSoft-Thin-Film : la transformée de Fourier rapide (FFT) et l'algorithme d'optimisation du meilleur ajustement (spectre de correspondance). La méthode FFT détermine la fréquence de la figure d'interférence ; elle est surtout utilisée pour les couches épaisses. L'optimisation du spectre de correspondance détermine le meilleur ajustement pour divers calculs d'épaisseur. Les paramètres d'ajustement sont réglables pour contrôler la qualité de l'ajustement et accélérer le traitement des données. Le logiciel comprend une vaste base de données des constantes optiques 'n' et 'k' des substrats et des revêtements. La base de données comprend des matériaux de substrats et de revêtements utilisés dans d'importants domaines d'application, tels que les semi-conducteurs et les revêtements optiques. Des modules complémentaires de contrôle des processus et d'exportation vers Excel sont également disponibles pour AvaSoft-Thin-Film.