Systèmes de positionnement pour microscopie

Répétabilité: 0,3 µm - 2,5 µm
Charge: 5 kg - 20 kg
Course: 100 mm - 720 mm

... simultanément Ce système d'inspection se compose de quatre axes en salle blanche et permet la mesure automatisée de plusieurs objets simultanément. Il permet d'obtenir une dynamique élevée et une reproductibilité maximale. ...

Répétabilité: 0,01 µm - 2,5 µm
Vitesse: 5 mm/s - 35 mm/s

... exceptionnellement longue grâce à des axes standard fiables à long terme Ce système de positionnement à 9 axes permet de visualiser des échantillons sous tous les angles possibles au microscope ou à ...

Répétabilité: 0,3 µm - 0,4 µm
Course: 100 mm - 200 mm
Vitesse: 15 mm/s - 25 mm/s

... Système XYZ avec contrôleur Personnalisable : - Idéal pour la mise en place et l'extension de votre application - Répétabilité extrêmement précise jusqu'à 0,3 µm - Pas les plus petits et fiabilité maximale à une vitesse ...

Répétabilité: 0,3 µm - 0,7 µm
Course: 200 mm
Vitesse: 15 mm/s - 25 mm/s

... métrologie de haute précision dans lesquelles la platine déplace l'objet à mesurer vers le capteur ou la caméra sur l'axe Z. La platine xy est composée d'un moteur à courant continu fiable, ...

Répétabilité: 0,8 µm - 4 µm
Charge: 1 kg
Course: 25 mm - 25 mm

... Ce système X-Y-Z miniaturisé est idéal pour les applications de positionnement où l'espace est limité. Associée à une broche à filetage fin, la platine XYZ atteint des valeurs de résolution ...

... automatisée et haute résolution sous tous les angles Ce système de positionnement à 9 axes permet de visualiser des échantillons sous tous les angles possibles sous des microscopes ou des caméras ...

Répétabilité: 0,1, 0,5 µm
Course: 2 mm
Vitesse: 0 mm/s

... Ce système de positionnement pour les applications automatisées de microscopie confocale et de caméra permet plus de 100 millions de focalisations et produit d'excellentes images. En ...

Vitesse: 30 mm/s

... Système d'inspection de haute précision pour des tâches de mesure polyvalentes Ce système de positionnement à 3 axes est conçu pour les applications de métrologie de haute précision ...

Répétabilité: 5,5, 2,5, 6,5, 4,5 µm

... Portique AFM XYZ pour l'inspection de wafers, la microscopie | déplacement jusqu'à 550 x 1550 mm | roulement à air, vis à billes, courroie, moteur pas à pas Portique AFM sur coussin d'air très stable avec de grandes ...