Spectromètre ICP-OES ARCOS

UVd'émission optiqueICP

La nouvelle interface latérale double (DSOI) accroît la sensibilité et élimine les problèmes de contamination et de compatibilité avec les matrices Un instrument au lieu de deux : Seul instrument plasma MultiView sur le marché - observation du plasma axial ET radial (simple ou double) en un seul instrument Système optique ORCA : Capture simultanée du spectre dans la gamme de longueurs d'onde 130-770 nm avec une sensibilité jusqu'à 5 fois supérieure à celle des systèmes basés sur le système Echelle - offre les meilleures performances de sa catégorie dans la gamme UV/VUV Le spectromètre d'émission optique à plasma inductif SPECTRO ARCOS (ICP-OES) excelle dans les applications industrielles et universitaires pour l'analyse élémentaire la plus avancée des métaux, des produits chimiques, des produits pétrochimiques et d'autres matériaux. Le mécanisme MultiView sans périscope permet à un opérateur de littéralement "transformer" un instrument à vision radiale en un appareil à vision axiale, ou vice-versa, en 90 secondes ou moins. MultiView comprend désormais une double observation latérale du plasma. Les deux interfaces optiques ajoutent de la sensibilité et éliminent les problèmes de contamination et de compatibilité avec les matrices. Les détecteurs à réseau de lignes, basés sur la technologie CMOS (métal-oxyde-semiconducteur complémentaire), éliminent le blooming, lisent les signaux faibles des éléments traces même à proximité des lignes intenses de la matrice, offrent une gamme dynamique élevée et éliminent le refroidissement sur la puce. La conception du SPECTRO ARCOS garantit des coûts d'exploitation exceptionnellement bas pour une durée de vie longue et fiable. Il est doté d'un châssis moderne et ergonomique et de caractéristiques éprouvées telles que la technologie de purification des gaz scellés UV-PLUS sans purge, le refroidissement par air breveté, le système de vannes intelligentes en option et la caméra vidéo portable pour la surveillance à distance.