Diffractomètre à rayons X ADX-2500
à cristal simple

diffractomètre à rayons X
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Caractéristiques

Type
à rayons X
Spécifications
à cristal simple

Description

L'appareil de diffraction des rayons X (XRD) ADX-2500 est conçu pour la mesure de la microstructure, les essais et les recherches approfondies. Avec différents accessoires et les logiciels de contrôle et de calcul correspondants, l'ADX-2500 XRD est un système de diffraction qui répond aux exigences pratiques dans de nombreux domaines. Le diffractomètre à rayons X ADX-2500 permet d'analyser la structure des échantillons monocristallins, polycristallins et amorphes. Le diffractomètre ADX-2500 est capable d'effectuer les opérations suivantes : analyse qualitative et quantitative des phases (RIR, étalonnage standard interne, étalonnage standard externe, critère additif), indexation des motifs, détermination et affinement de la cellule unitaire, détermination de la taille des cristallites et de la déformation, ajustement du profil et affinement de la structure, détermination des contraintes résiduelles, analyse de la texture (l'ODF exprime la figure de pôle tridimensionnelle), estimation de la cristallinité à partir de la surface des pics, analyse des couches minces, etc. Caractéristiques - L'intégration parfaite du matériel et du logiciel permet à l'appareil de diffraction des rayons X ADX-2500 d'effectuer différents types d'analyses pour les chercheurs de divers domaines ; - La haute précision de la mesure de l'angle de diffraction permet à l'ADX-2500 X-ray Diffraction d'obtenir des données plus précises ; - La stabilité accrue du système de contrôle du générateur de rayons X assure une excellente précision des mesures ; - La conception simple et efficace rend l'ADX-2500 XRD pratique à utiliser et convivial. Logiciel Traitement général des données de diffraction : recherche automatique de pics, recherche manuelle de pics, intensité intégrale, séparation de Kα1, α2, suppression de l'arrière-plan, lissage et agrandissement du motif, tracé multiple,

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