Analyseur de process SSD-MSF

à rayons X

SSD-MSF Le SSD-MSF de Rigaku est un analyseur de contrainte à rayons X équipé d'un détecteur à semi-conducteur D/teX Ultra1000 1D qui utilise les rayons X pour mesurer de manière non destructive la contrainte résiduelle accumulée dans un matériau pendant le processus de fabrication. Le support d'axe Z automatique permet la mesure d'échantillons grands et petits avec une opération simple. Cet instrument d'analyse des contraintes a une vitesse de mesure vingt fois plus rapide que celle des compteurs à scintillation et deux fois plus rapide que celle des compteurs proportionnels sensibles en position (PSPC's). Détecteur à semi-conducteur monodimensionnel à haute sensibilité et haute résolution énergétique D/teX Ultra1000 Le D/teX Ultra1000 fournit des profils avec un rapport crête sur fond élevé et une efficacité de détection 1,7 fois supérieure à celle des PSPC conventionnels. Toute taille d'échantillon, qu'il s'agisse de grandes structures ou de petits échantillons Le support de l'axe Z automatique élargit la taille de l'échantillon mesurable jusqu'à 1100 mm en hauteur et jusqu'à 530 mm en longueur de bras.