Spectromètre optique NANOHUNTER II

de fluorescence X en réflexion totalepour l'analyseautomatique

La nouvelle génération de spectromètre Rigaku NANOHUNTER II de nouvelle génération à réflexion totale par fluorescence X (TXRF) permet l'analyse élémentaire ultra-trace à haute sensibilité de liquides à des concentrations de parties par milliard (ppb). La spectroscopie par fluorescence X à réflexion totale est une méthode par laquelle un faisceau incident de rayons X ne fait qu'effleurer l'échantillon, fournissant un bruit de fond faible et une mesure de haute sensibilité des éléments ultra-traces.TXRF pour les applications environnementales des oligo-élémentsEn raison des réglementations environnementales toujours plus strictes, il existe maintenant une demande pour une méthode plus simple pour réaliser des analyses élémentaires à des niveaux pouvant descendre à ppb des effluents et liquides de rejets industriels. Grâce au spectromètre NANOHUNTER™ II, l'analyse jusqu'au niveau ppb devient possible, même avec un échantillon de très petite taille, simplement en ajoutant une goutte de liquide au support d'échantillon, en le séchant et en effectuant ensuite la mesure. L'analyse quantitative à l'aide de substances étalons internes peut également être facilement réalisée.TXRF de table avec tube radiogène 600 WRigaku NANOHUNTER II TXRF analyseur combine un système entièrement automatique de réglage de l'axe optique qui fournit une analyse stable de haute sensibilité dans un format de table facile à manipuler qui permet un fonctionnement rapide et sans problème. Doté d'une source de rayons X haute puissance de 600 W, d'un miroir (optique) nouvellement développé et d'un détecteur de dérive au silicium (SDD) de grande surface, le spectromètre NANOHUNTER II TXRF possède un passeur automatique 16 positions qui permet de bénéficier de temps de mesure rapides pour un débit élevé.