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Microscope pour wafer SAM 300 AUTO WAFERd'inspectionautomatiséacoustique à balayage
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Caractéristiques
- Applications
- d'inspection
- Autres caractéristiques
- automatisé, acoustique à balayage, pour wafer
Description
La SAM 300 AUTO WAFER est une ligne de produits développée pour le contrôle en ligne de la production de wafers collés. Il est compatible avec les salles blanches de classe 10.
L'application principale est la détection de vides, d'inclusions et de zones délaminées à l'interface collée des wafers.
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* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.