Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) en-ligne pour l'industrie photovoltaique
ISO 3497, ASTM B568 and DIN 50987 Oxford Instruments Analytical

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X-Strata980 est une solution rentable pour le processus et le contrôle de qualité des cellules photovoltaïques en couche mince. C'est une haute performance, la micro-tache, spectromètre dispersif de fluorescence de rayon X d'énergie de mettre hors jeu-dessus pour la détermination de l'épaisseur d'enduit et de l'analyse multicouche de composition sur de petits secteurs d'analyse. Il se conforme à OIN 3497 de méthodes d'essai, à ASTM B568 et à DIN 50987.

Le système a comme sa source d'excitation un rodé en clientèle, 100 watts, tube à rayon X de micro-foyer d'instruments d'Oxford, et est équipé d'un détecteur à rendement élevé et Peltier-refroidi de SI-PIN-diode. Cette combinaison fournit la précision exceptionnelle et les basses limites de la détection, même aux temps courts de mesure. Des résultats d'épaisseur et de composition d'enduit sont obtenus dans des secondes.

Il n'y a aucune préparation témoin exigée. C'est simplement une question de placer l'échantillon dans la grande chambre de l'analyse des X-Strates, utilise le laser de foyer pour réaliser la distance focale correcte, et clique dessus « vont » bouton pour commencer la mesure.

Il permet l'analyse rapide de l'épaisseur de couche et la composition des cellules et peut faire partie d'un processus de décision de passage/échouer, s'assurant que les pièces produites répondent à des spécifications, fournissant de ce fait l'efficacité exigée de la conversion de l'énergie solaire dans l'électricité.