Microscope SEM JSM-IT200 InTouchScope™

pour analyseCCDautomatique

Le JSM-IT200 est un MEB facile à utiliser, axé sur le rendement des coûts des fonctionnalités élevées du JSM-IT500 (modèle haut de gamme) de l'InTouchScopeTM, avec un débit nettement plus élevé. Specimen Exchange Navi, une fonction conviviale pour les débutants, offre un fonctionnement guidé depuis le chargement de l'échantillon jusqu'à la recherche de zone et l'observation de l'image SEM. "Zeromag" pour une transition transparente de l'imagerie optique à l'imagerie MEB, "Live Analysis "*2 pour l'affichage en temps réel des résultats de l'analyse élémentaire, SMILE VIEW（TM） Lab pour la génération de rapports transparents sur les résultats d'observation et/ou d'analyse, etc., permettent une analyse rapide avec une transition intégrée de l'OM au MEB. Observation, analyse et génération de rapports rapides ! La série JEOL InTouchScope™, l'outil analytique de haute performance avec trois fonctions principales. Specimen Exchange Navi : opération guidée de l'introduction de l'échantillon à l'observation Un guide pas à pas pour l'échange d'échantillons, le réglage des conditions et l'imagerie automatique. Observation rapide ! "Zeromag Vous pouvez localiser la zone de l'échantillon ou spécifier les positions d'analyse à l'aide des graphiques du support ou de l'image CCD optique*１ affichée sur l'écran principal. Analyse rapide ! "Analyse en direct*2 Le spectre caractéristique des rayons X de la zone de mesure et les principaux éléments constitutifs sont affichés pendant l'observation. Génération rapide de rapports ! SMILE VIEW™ Lab : gestion intégrée des données Un simple clic sur le bouton de gestion des données affiche l'écran de gestion des données, vous permettant de générer un rapport de toutes les images et données d'analyse, ainsi que d'examiner ou de réanalyser les données déjà acquises.