Système de préparation d'échantillons automatique EM-09100IS Ion Slicer™

pour SEM

Méthode innovante de préparation des échantillons pour TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER L'Ion Slicer peut préparer des échantillons de couches minces sans solvants ni produits chimiques et ne nécessite aucun traitement préalable de l'échantillon autre que le tranchage rectangulaire (pas de meulage de disque ni de meulage de fossette). L'Ion Slicer prépare les échantillons à couche mince plus rapidement et plus facilement que les outils de préparation conventionnels. Un faisceau d'ions Ar à faible énergie et à faible angle irradie l'échantillon tandis qu'une fine ceinture de protection permet une irradiation à faible angle du faisceau d'ions Ar (de 0° à 6°), ce qui réduit considérablement les dommages causés à l'échantillon par l'irradiation du faisceau d'ions. Le résultat est un film mince de haute qualité avec peu d'artefacts de pulvérisation, même dans les matériaux tendres. L'Ion Slicer peut préparer efficacement des films minces à partir d'échantillons de compositions différentes, même ceux qui contiennent des composites poreux. Les points forts sont les suivants - Prétraitement TEM de haute qualité - Préparation rapide - Pas de prétraitements compliqués - Dommages minimes à la surface