- Métrologie - Laboratoire
- Analyses Physico-Chimiques
- Spectromètre EDXRF
- HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
- Produits
- Catalogues
- News & Trends
- Salons
Spectromètre à fluorescence XDL® seriesEDXRFde laboratoireautomatisé
Ajouter à mes favoris
Ajouter au comparateur
Caractéristiques
- Type
- à fluorescence, EDXRF
- Domaine
- de laboratoire
- Autres caractéristiques
- automatisé
Description
Appareil de mesure à fluorescence de rayons X pour la mesure manuelle ou automatisée d'épaisseur de revêtements fonctionnels, revêtements anti-corrosion et pièces de série.
Catalogues
FISCHER Product Overview
24 Pages
XAN Series
36 Pages
Autres produits HELMUT FISCHER GMBH - INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND
Coating Thickness
Recherches associées
- Spectromètre HELMUT FISCHER
- Spectromètre de laboratoire HELMUT FISCHER
- Spectromètre pour process
- Spectromètre compact HELMUT FISCHER
- Spectromètre de paillasse
- Spectromètre XRF HELMUT FISCHER
- Conductimètre
- Spectromètre de mesure HELMUT FISCHER
- Spectromètre portable
- Spectromètre à fluorescence HELMUT FISCHER
- Spectromètre automatisé HELMUT FISCHER
- Conductimètre portable
- Spectromètre EDXRF HELMUT FISCHER
- Spectromètre pour R&D
- Spectromètre à rayons X
- Spectromètre portatif
- Sonde à courant de Foucault
- Spectromètre de production
- Sonde d'épaisseur
- Spectromètre pour l'électronique
* Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.