Microscope à force atomique Dimension Edge
pour la recherchede mesurede paillasse

microscope à force atomique
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Caractéristiques

Type
à force atomique
Applications
pour la recherche, de mesure
Configuration
de paillasse
Autres caractéristiques
haute résolution, automatique, modulaire, à haute vitesse, motorisé

Description

Dimension Edge™ intègre la technologie PeakForce Tapping® de Bruker pour offrir les plus hauts niveaux de performance, de fonctionnalité et d'accessibilité des microscopes à force atomique (AFM) de sa catégorie. Basé sur la plateforme Dimension Icon, le système Edge a été conçu de fond en comble pour offrir la faible dérive et le faible bruit nécessaires pour obtenir des données prêtes à être publiées en quelques minutes au lieu de quelques heures, le tout à des prix bien inférieurs aux attentes pour de telles performances. Le retour visuel intégré et les paramètres préconfigurés permettent d'obtenir des résultats de niveau expert de manière simple et cohérente, mettant ainsi les capacités et les techniques AFM les plus avancées pour les grands échantillons à la disposition de chaque installation et utilisateur. microscope et électronique Offre une haute fidélité d'image et une flexibilité de recherche à un coût modéré. Intégration de accès au routage des signaux Permet des mesures personnalisées et des capacités de recherche étendues. Intégrée contrôle de la scène Permet une navigation rapide des échantillons et des mesures multi-sites efficaces. Précision en boucle fermée Au cœur des capacités de ce système se trouve le célèbre scanner en boucle fermée de Bruker. Intégrant des capteurs de position à compensation de température et piloté par une électronique de commande modulaire à faible bruit, ce composant de balayage de la pointe réduit les niveaux de bruit de positionnement en boucle fermée à l'échelle d'une seule liaison chimique. Grand plateau d'échantillonnage La platine d'échantillonnage Dimension Edge n'est pas seulement motorisée et programmable pour des mesures multi-sites efficaces, mais elle vous permet également de placer plus de types d'échantillons directement sous le scanner AFM avec moins de temps de préparation.

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ACHEMA 2024
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10-14 juin 2024 Frankfurt am Main (Allemagne)

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    * Les prix s'entendent hors taxe, hors frais de livraison, hors droits de douane, et ne comprennent pas l'ensemble des coûts supplémentaires liés aux options d'installation ou de mise en service. Les prix sont donnés à titre indicatif et peuvent évoluer en fonction des pays, des cours des matières premières et des taux de change.