Caméra industrielle PV Inspector

à émission optique à étincellesd'inspectionNIR

La caméra NIR d'Andors PV Inspector est conçue pour offrir des performances ultimes en matière de vitesse et de sensibilité pour l'inspection en ligne de l'électro- et de la photoluminescence, offrant > 90 % de QE au-delà de 800 nm et intégrant la Fringe Suppression Technology™ pour minimiser les effets de frange dans le NIR - QE > 90 % au-delà de 800 nm - Vitesses de lecture de 5 MHz et 3 MHz - Mode anneau à double exposition - Technologie de suppression des franges ™ - UltraVac™ La caméra NIR PV Inspector d'Andor est conçue pour offrir des performances ultimes en matière de vitesse et de sensibilité pour l'inspection en ligne de l'électro- et de la photoluminescence, offrant une QE > 90 % au-delà de 800 nm et intégrant la Fringe Suppression Technology™ pour minimiser les effets de frange dans le NIR. La matrice de 1024 x 1024 affiche des pixels de 13 μm à haute résolution, et bénéficie d'un courant d'obscurité négligeable avec un refroidissement thermoélectrique jusqu'à -70°C. Le PV Inspector offre le débit le plus élevé de l'industrie grâce à des vitesses de lecture rapides allant jusqu'à 5 MHz, combinées à un " mode anneau d'exposition double " unique qui permet une commutation rapide de l'exposition. Un port USB 2.0 verrouillable assure une connectivité sécurisée et résistante aux vibrations. La sensibilité NIR améliorée et les modes uniques à grande vitesse du PV Inspector permettent l'inspection EL à double exposition à des taux supérieurs à 1 cellule par seconde, ce qui convient parfaitement aux systèmes d'inspection PV à très haut débit tels que ceux que l'on trouve dans les stringers et les trieuses de cellules. L'imagerie rapide à double exposition permet une mesure quantitative des cellules sous différents niveaux de biais.