Systèmes de mesure pour wafers

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système de mesure de vibration
système de mesure de vibration
RoboVib

... être mesuré en seulement 1 à 2 jours et pendant la nuit, alors que les méthodes d'essai convetionnelles nécessiteraient des semaines uniquement pour la préparation de l'essai. Mesure à façon, service ...

système de mesure pour wafer
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XDV®-µ SEMI

... augmentent l'efficacité • Système XRF avec une excellente sensibilité de détecteur et une haute résolution • La reconnaissance automatique des formes identifie les positions à mesurer • Plusieurs modes ...

système de mesure d'épaisseur
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PWG™

... du processus, surveillance en ligne, contrôle du recouvrement de la lithographie PWG5™ avec option XT Des technologies supplémentaires étendent les capacités de manipulation et de mesure des plaquettes ...

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KLA - TENCOR
système de mesure vidéo
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NEXIV VMZ-K3040

La série NEXIV-K est en mesure de réaliser des inspections 3D à grande vitesse et haute résolution. Système de mesure vidéo confocal multifonctionnel révolutionnaire Ce système ...

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Nikon Metrology
système de mesure de dimension critique
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DaVinci

... à la déformation. Le système de métrologie de TZTEK permet d'éliminer ces interférences. Pour une largeur de structure inférieure à 0,7 μm, la lumière UV peut être appliquée. Épaisseur du film Le système ...

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TZTEK Technology Co.,ltd
système de mesure pour wafer
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... détectées rapidement et globalement. La mesure sans contact évite d'endommager la plaquette par la caractérisation magnétique traditionnelle et peut être appliquée à la détection d'échantillons avant et après le modelage. Wafer ...

machine de mesure de coordonnées
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INSIGHT 800

... diverses mesures de tailles. La commande numérique par ordinateur Vision Measuring System de multicapteur sont également employée couramment avec des multiples de plus petites pièces emboîtées dans ...

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Leader Precision Instrument Co. Ltd
système de mesure d'épaisseur
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MT-100 + Zoom70

... : Table de mesure de petite taille combinée à un zoom optique haute résolution La station de mesure MT-100-Z70 combine le système optique haute résolution et la technologie efficace ...

système de mesure pour wafer
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SUMMIT200

... Le nouveau système de sonde avancé SUMMIT200 de Cascade est essentiel pour collecter des données de mesure de haute précision sur des tranches de silicium simples ou en volume, aussi rapidement que possible. Conçue ...

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FORMFACTOR
système de mesure d'orientation
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YX-6D/6DA

... enregistreur, d'un obturateur optique électromagnétique, d'un microcontrôleur, d'un clavier, d'un afficheur d'entrée, d'un afficheur de menu, d'un afficheur de données, d'un affichage ...

système de mesure d'épaisseur
système de mesure d'épaisseur

... matériaux et conditions de polissage Grande précision de mesure Plage d'épaisseur : 0-1mm précision de mesure : ± 1 μ M précision de répétition : 0,2 μ m Temps de mesure court Temps ...

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