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Analyseur

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Sociétés 1 à 7 sur 7
Carl Zeiss MicroImaging
Microscope électronique à balayage (SEM) pour analyse de matériaux Carl Zeiss MicroImaging
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Microscopie corrélative

&#8220 ; Navette et Find&#8221 ; est une interface corrélative pour la lumière et les microscopes électroniques et fournit une manière franche de combiner les avantages de la photomicroscopie avec les fonctionnalités étendues des microscopes électroniques de balayage de bord d'attaque, par exemple spectroscopie aux rayons X dispersive d'énergie.


Les ...

Phenom-World
Microscope électronique à balayage (SEM) pour analyse de fibres  0.04 - 100 nm | Fibermetric Phenom-World
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Une meilleure, plus rapide analyse de fibre

Maintenant, observation directe et mesure de micro et
les fibres nanoes est plus rapide, meilleure et plus facilement que jamais avant, avec
l'application améliorée de Fibermetric.

En combination avec le Phenom&#8482 ; Le pro microscope à balayage électronique G2 de bureau, l'application de Fibermetric te permet de produire ...

Hitachi High-Technologies Europe
Microscope électronique par balayage pour analyse avec pression variable (VP FE-SEM)  S-3700 Hitachi High-Technologies Europe
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Le S-3700N est une pression variable analytique les PSEM de grande chambre, offrant la polyvalence analytique extraordinaire combinée avec la formation image de haute performance. Les 5 que l'axe commandé par ordinateur a motorisé l'étape avec -20° à l'inclinaison de +90° peuvent manipuler des spécimens jusqu'à 300 millimètres de diamètre et jusqu'à 110 millimètres de grand. La grande chambre a une ...

Microscope électronique à champ d'émission par balayage pour analyse avec pression variable (VP FE-SEM)  SU6600 Hitachi High-Technologies Europe
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Fucntions automatiques révolutionnaires d'axe-aligment (arrangement automatique de faisceau, Aligment axial automatique, ect.)
Encore une meilleure résolution de 10nm à 3kV
Affichage d'image et mélange en temps réel et duels de signal
l'axe 5 a motorisé l'étape avec l'inclinaison élevée (- le ~ 20 +90 degrés.) un échantillon grand jusqu'à haut applicable de 80mm (type - 2)
Chambre ...

Microscope électronique à champ d'émission par balayage (FE-SEM) pour analyse  SU70 Hitachi High-Technologies Europe
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Nous sommes fiers de présenter notre NOUVELLE solution souple pour des buts analytiques en combination avec l'Ultra-Haut-Résolution et les possibilités suffisantes de choix de signal.

Carl Zeiss Nano Technology Systems
Microscope électronique à champ d'émission par balayage (FE-SEM) pour analyse  MERLIN Carl Zeiss Nano Technology Systems
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MERLIN&#153 ;
Puissance analytique pour le monde de Secondaire-Nanomètre

- Analytics nano
- L'information totale
- Facilité d'utilisation
- Futur assuré

MERLIN&#153 ; - analyse et résolution dans un
MERLIN FE-SEM surmonte le conflit entre la résolution d'image et les possibilités analytiques. Le noyau de MERLIN est la colonne augmentée des GÉMEAUX II ...

Microscope électronique à champ d'émission par balayage pour analyse avec pression variable (VP FE-SEM)  ΣIGMA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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SIGMA - microscopie analytique avancée - maintenant disponible avec la technologie de VP

Le SIGMA, comportant la technologie de GEMINI® fournit la formation image exceptionnelle et les résultats analytiques d'un microscope d'émission de champ.

Le SIGMA est maintenant disponible avec la technologie variable (VP) de pression pour la formation image et l'analyse exceptionnelles du ...

Jeol
Microscope électronique à champ d'émission par balayage (FE-SEM) pour analyse  JSM-6701F Jeol
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Le JSM-6701F est un microscope à balayage électronique d'émission de champ (FESEM) incorporant un pistolet froid d'émission de champ de cathode, un vide ultra poussé, et des technologies numériques sophistiquées pour la formation image de haute résolution de qualité des structures micro. Comportant un pistolet conique de Fe et un objectif objectif de semi-dans-objectif, le système est capable de la ...

Microscope électronique à champ d'émission par balayage (FE-SEM) pour analyse  JSM-7500F Jeol
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Le JSM-7500F est une émission de champ analytique les PSEM comportant l'exécution augmentée, la facilité d'emploi, et l'efficacité énergétique. Le JSM-7500F offre la résolution la plus élevée au plus bas kilovolt de tous les PSEM disponibles, réalisant une résolution de 1.4 nanomètre à 1 kilovolt. Le JSM-7500F fournit l'exécution de dans-objectif (1.0nm à 15kV) mais peut manipuler des échantillons ...

Microscope électronique à champ d'émission par balayage (FE-SEM) pour analyse  JSM-7001F Jeol
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Le JSM-7001F, l'émission de champ thermique les PSEM, est la plate-forme idéale pour exiger des applications analytiques aussi bien que ceux qui exigent la résolution et la facilité d'utilisation. Le JSM-7001F a un grand, un axe 5, une étape entièrement eucentric, motorisée, automatisée de spécimen, une poche d'air d'échange de spécimen d'un-action, le petit diamètre de sonde même à la grande tension ...

HUND
Microscope pour analyse de matériaux HUND
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H 600 AM 50
pour la recherche extérieure sur les matériaux opaques

BOUCHON 50
pour la recherche extérieure sur le matériel opaque, avec le stand de colonne. L'illustration montre le BOUCHON avec la table plate du même rang et les axes de mesure numériques

H 600 AM/AL/DL 50
pour la recherche extérieure sur le matériel opaque dans la lumière d'incident et les objets transparents ...

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