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Microscopes pour grands échantillons
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Résolution spatiale: 0,2 µm
Poids: 9 kg
Longueur: 587 mm
... caméras pour microscope continuent de fournir une technologie de pointe et des performances fiables pour répondre à la large gamme d’applications industrielles. Choisissez parmi une grande ...
Résolution spatiale: 1 µm
Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour effectuer des inspections de grande qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres ...
... résolution, mais également le rendement lors du contrôle d'échantillons d'un diamètre de 8 po/200 mm. L'éclairage s'inspire de la toute dernière technologie LED et est entièrement intégré dans le microscope. ...
Leica Microsystems GmbH
Microscope numérique pour l’analyse de défaillance, l’assurance et le contrôle qualité, la recherche et le développement ou encore la médecine légale. L'optique exceptionnelle, la manipulation intuitive et le logiciel ...
Leica Microsystems GmbH
... être simple et fiable. Sa conception robuste intègre un excellent système optique et permet le contrôle, même sur de grands échantillons, avec une lumière en fond clair, oblique ou polarisée . L'éclairage ...
Leica Microsystems GmbH
ZEISS Axio Imager Vario Microscope droit pour grands échantillons Examiner de grands échantillons - compatible avec salle automatisée et salle blanche Analysez ...
ZEISS Industrial Metrology
... Les microscopes inversés sont compacts, durables et utilisés pour des besoins de fort grossissement. Ils sont idéaux pour l'analyse d'échantillons de montage avec des surfaces d'échantillon ...
Grossissement: 1 unit - 150 unit
... potence est conçue pour l'observation de très grands spécimens avec une stabilité élevée constante. De plus, Axio Imager Vario est certifié pour le travail en salle blanche. Examen d'échantillons ...
Grossissement: 1 unit - 100 unit
Longueur: 295 mm
Largeur: 215 mm
... La conception universelle du microscope permet de combiner des techniques de contraste optique complémentaires sur un même statif de microscope grâce à un système de composants modulaires. Nikon ECLIPSE ...
Nikon Metrology
... entière de 300 mm, sans avoir besoin de déplacer l'échantillon. Principales caractéristiques techniques : scanner 2D guidé par la flexion avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm * Scanner Z à grande ...
Résolution spatiale: 5 µm - 110 µm
... quant au type et à la taille des échantillons qu'ils peuvent traiter. Le NaniteAFM de Nanosurf est la solution leader du marché pour l'intégration AFM avec le moins de restriction possible sur les dimensions des échantillons. Le ...
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