Avec l'application de reconstruction de la rugosité 3D, le Phenom peut produire des images et des mesures tridimensionnelles de rugosité de submicrometer.
Cette demande entièrement automatisée de microscope à balayage électronique de Phenom aidera à communiquer des résultats de formation image et extraira et visualisera des données normalement caché dans un échantillon.
3D
la ...
Une meilleure, plus rapide analyse de fibre
Maintenant, observation directe et mesure de micro et
les fibres nanoes est plus rapide, meilleure et plus facilement que jamais avant, avec
l'application améliorée de Fibermetric.
En combination avec le Phenom™ ; Le pro microscope à balayage électronique G2 de bureau, l'application de Fibermetric te permet de produire ...
Le Phenom G2 pur est un outil idéal pour faire la transition à partir de travailler avec un photomicroscope à actionner un microscope électronique. Le Phenom G2 pur est équipé des composants de base pour les besoins de formation image de réunion.
Le Phenom G2 pur fournit les images de haute qualité tout en en utilisant les dispositifs de base, et offre le temps du chargement le plus ...
Les prochaines constructions de table de microscope de la génération TM3000 sur le succès de son prédécesseur, le TM-1000, et des offres ont amélioré de manière significative l'exécution, y compris le rapport optique jusqu'à 30,000x et à meilleure résolution, dans une unité qui occupe 20% moins d'espace et a une conception économiseuse d'énergie. Le nouveau TM3000 est un microscope à balayage électronique ...
Le S-3700N est une pression variable analytique les PSEM de grande chambre, offrant la polyvalence analytique extraordinaire combinée avec la formation image de haute performance. Les 5 que l'axe commandé par ordinateur a motorisé l'étape avec -20° à l'inclinaison de +90° peuvent manipuler des spécimens jusqu'à 300 millimètres de diamètre et jusqu'à 110 millimètres de grand. La grande chambre a une ...
Le nouveau microscope à balayage électronique de l'émission de champ SU9000 (Fe) (les PSEM) permet à 0.4 résolution de nanomètre d'être réalisée à une tension de accélération de 30 kilovolts, avec un rapport optique utilisable jusqu'à 3 millions de fois.
Comportant un nouveau type de source froide d'électron de Fe avec l'excellents stabilité et éclat, le SU9000 fournit également la formation ...
Microscopie corrélative
“ ; Navette et Find” ; est une interface corrélative pour la lumière et les microscopes électroniques et fournit une manière franche de combiner les avantages de la photomicroscopie avec les fonctionnalités étendues des microscopes électroniques de balayage de bord d'attaque, par exemple spectroscopie aux rayons X dispersive d'énergie.
Les ...
MERLIN™ ;
Puissance analytique pour le monde de Secondaire-Nanomètre
- Analytics nano
- L'information totale
- Facilité d'utilisation
- Futur assuré
MERLIN™ ; - analyse et résolution dans un
MERLIN FE-SEM surmonte le conflit entre la résolution d'image et les possibilités analytiques. Le noyau de MERLIN est la colonne augmentée des GÉMEAUX II ...
Série les PSEM d'EVO® mA et de LS
Conduit par des applications
La série les PSEM d'EVO® a évolué pour fournir à des utilisateurs en analyse et sciences de la vie de matériaux des microscopes conçus pour assortir leurs besoins. Les deux séries de microscopes partagent quelques dispositifs principaux.
Dispositifs principaux
- La principale géométrie de rayon X de classe ...
SIGMA - microscopie analytique avancée - maintenant disponible avec la technologie de VP
Le SIGMA, comportant la technologie de GEMINI® fournit la formation image exceptionnelle et les résultats analytiques d'un microscope d'émission de champ.
Le SIGMA est maintenant disponible avec la technologie variable (VP) de pression pour la formation image et l'analyse exceptionnelles du ...
MTII a récemment acquis la marque de Fullam des machines miniatures de tension, de compression et de courbure d'essai spécifiquement conçues pour l'usage dans des microscopes électroniques de balayage (SEMs), des microscopes atomiques de force (AFMs) et des photomicroscopes (LMs). La conception duelle de leadscrew charge symétriquement des échantillons tout en les maintenant centrés dans le champ ...
Le BRR, un SEM/AFM entièrement intégré
Outil de combinaison entièrement intégrée des PSEM/AFM pour des mesures courantes. Une interface de logiciel simple permet l'opération d'AFM et de PSEM aussi bien que des mesures de combinaison à la poussée d'un bouton. Basé sur Zeiss Auriga® et une version spéciale de notre UHV AFM, cet instrument représente non-plus-ultra l'outil extérieur de caractérisation. ...
JEOL a joué un rôle principal dans le développement et l'évolution de la microscopie électronique de balayage depuis le début des années soixante. Pendant les dernières cinq décennies, les PSEM est devenus un outil indispensable dans la recherche avancée et l'analyse de routine pour la science et l'industrie. JEOL a installé dans le monde entier plus de 8000 SEMs.
SEMs trouvent continuellement ...
Le JSM-6510 est un à rendement élevé, coût bas, microscope à balayage électronique pour la caractérisation rapide et formation image des structures fines. Un d'une famille des quatre PSEM modèle qui sont employés couramment dans tous les domaines de recherches et applications industrielles, le JSM-6510 permet l'observation des spécimens jusqu'à 150mm de diamètre.
Dans toute l'évolution de ...
Le JSM-6610 est un microscope à balayage électronique à rendement élevé pour la caractérisation et la formation image rapides des structures fines sur de petits et grands échantillons. Un d'une famille des quatre PSEM modèle qui sont employés couramment dans tous les domaines de recherches et applications industrielles, le JSM-6610 permet l'observation des spécimens jusqu'à 200mm de diamètre.
Dans ...
The E3620 is a Scanning Electron Microscope (SEM)-based Critical Dimension (CD) measurement system for photomasks.
This CD SEM metrology system was designed specifically for 45nm technology node production and 32nm process development.
Its proprietary technology, the feature column design and a unique electron beam scanning, compensates a particular charging effect for photomasks measurement. ...
Les Angström-PSEM est un véritable instrument universel et à utilisateurs multiples. Il excelle dans la polyvalence et la flexibilité en combinant la haute performance en tous les modes et particule des PSEM contre- facilement de l'opération dans un environnement matériel à utilisateurs multiples de recherches. Cet instrument comporte un équilibre parfait entre la configuration stable et une excellente ...
La combinaison in-situ du MCE, des PSEM et du SAM pour l'analyse structurale et chimique de haute résolution crée un outil supérieur de recherches. La résolution atomique MCE est idéalement complétée par les capacités des PSEM à l'image de grandes superficies, aide d'identifier des centres d'intérêt, et aide finalement le positionnement précis du bout de MCE à la tache désirée sur la surface.
Le ...
CS3100
X et mouvement de Y
100mm x 100mm
Options de cathode
Tungstène
Résolution de SEI
<3.5nm @ 30kV
Tension de accélération
30kV
CS3200
X et mouvement de Y
100mm x 100mm
Options de cathode
Tungstène (étalon)
LaB6 (option)
Résolution de SEI
<3.5nm @ 30kV (w)
<2.5nm @ 30kV (LaB6)
Tension ...
Apollo 300
Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.
Modèles de l'étalon 500
Cathode de tungstène de X500S
Émission de champ de X500FE Schottky
Modèle
X500S X500FE
Options de cathode
Fe du tungstène (w) Schottky
Résolution de SEI à
Vide élevé.
<3.5nm @ 30kV <1.5nm @ 25kV
Tension de accélération
étalon 40kV
50kV étalon de l'option 25kV
option 30kV
The EBM powers E-Beam Columns in Scanning Electron
Microscopes providing acceleration, bias and filament
sources in a single compact package. Spellman’s proprietary HV packaging and encapsulation technology gives
dramatic improvements in size, cost and performance
compared to other SEM power supply offerings. The EBM
provides a highly regulated, low noise, ultra stable accelerator ...
Chaque système de protocole vient avec le nouveau logiciel du protocole 2. Ce logiciel apporte les niveaux avançés de la commande et de la fonctionnalité à toutes les applications.
Le logiciel du protocole 2 est également disponible comme paquet autonome qui peut être employé avec un PC d'ordinateur de bureau ou d'ordinateur portable. Ce PC externe peut être relié au protocole 2 - comptez ...
