MERLIN™ ;
Puissance analytique pour le monde de Secondaire-Nanomètre
- Analytics nano
- L'information totale
- Facilité d'utilisation
- Futur assuré
MERLIN™ ; - analyse et résolution dans un
MERLIN FE-SEM surmonte le conflit entre la résolution d'image et les possibilités analytiques. Le noyau de MERLIN est la colonne augmentée des GÉMEAUX II ...
SIGMA - microscopie analytique avancée - maintenant disponible avec la technologie de VP
Le SIGMA, comportant la technologie de GEMINI® fournit la formation image exceptionnelle et les résultats analytiques d'un microscope d'émission de champ.
Le SIGMA est maintenant disponible avec la technologie variable (VP) de pression pour la formation image et l'analyse exceptionnelles du ...
La réponse aux défis nanos modernes de la science est la colonne unique de l'émission de champ de GEMINI® LES PSEM, une solution sophistiquée identifiée par des microscopistes dans le monde entier en tant que chef. Le nouveau SUPRA™ ; la série, basée sur la 3ème colonne de la génération GEMINI®, offre une gamme complète des modèles ultra de haute résolution de FESEMs pour couvrir tous les ...
Le S-3700N est une pression variable analytique les PSEM de grande chambre, offrant la polyvalence analytique extraordinaire combinée avec la formation image de haute performance. Les 5 que l'axe commandé par ordinateur a motorisé l'étape avec -20° à l'inclinaison de +90° peuvent manipuler des spécimens jusqu'à 300 millimètres de diamètre et jusqu'à 110 millimètres de grand. La grande chambre a une ...
Fucntions automatiques révolutionnaires d'axe-aligment (arrangement automatique de faisceau, Aligment axial automatique, ect.)
Encore une meilleure résolution de 10nm à 3kV
Affichage d'image et mélange en temps réel et duels de signal
l'axe 5 a motorisé l'étape avec l'inclinaison élevée (- le ~ 20 +90 degrés.) un échantillon grand jusqu'à haut applicable de 80mm (type - 2)
Chambre ...
Nous sommes fiers de présenter notre NOUVELLE solution souple pour des buts analytiques en combination avec l'Ultra-Haut-Résolution et les possibilités suffisantes de choix de signal.
The JSM-7600F is a stateof- the-art thermal FE-SEM that successfully combines ultrahighresolution imaging with optimized analytical functionality. In addition, the JSM-7600F incorporates a large specimen chamber. This uniquely designed chamber, which accommodates a 200 mm diameter specimen, is optimized for a large variety of detectors for secondary electrons, backscattered electrons, EDS, WDS, EBSD, ...
Le JSM-6701F est un microscope à balayage électronique d'émission de champ (FESEM) incorporant un pistolet froid d'émission de champ de cathode, un vide ultra poussé, et des technologies numériques sophistiquées pour la formation image de haute résolution de qualité des structures micro. Comportant un pistolet conique de Fe et un objectif objectif de semi-dans-objectif, le système est capable de la ...
Le JSM-7500F est une émission de champ analytique les PSEM comportant l'exécution augmentée, la facilité d'emploi, et l'efficacité énergétique. Le JSM-7500F offre la résolution la plus élevée au plus bas kilovolt de tous les PSEM disponibles, réalisant une résolution de 1.4 nanomètre à 1 kilovolt. Le JSM-7500F fournit l'exécution de dans-objectif (1.0nm à 15kV) mais peut manipuler des échantillons ...
Apollo 300
Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.
Modèles de l'étalon 500
Cathode de tungstène de X500S
Émission de champ de X500FE Schottky
Modèle
X500S X500FE
Options de cathode
Fe du tungstène (w) Schottky
Résolution de SEI à
Vide élevé.
<3.5nm @ 30kV <1.5nm @ 25kV
Tension de accélération
étalon 40kV
50kV étalon de l'option 25kV
option 30kV
