Le PHE101 est le dernier ellipsometer discret de longueur d'onde avec beaucoup de nouvelles configurations, telles que la bibliothèque de matériaux, l'angle variable le plus large, un deuxième laser pour l'alignement et le logiciel très puissant faisant à l'instrument l'exactitude la plus élevée et la répétition.
* Excellentes exactitude et répétition
* Opération tournante rapide d'analyseur.
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PHE101M est ellipsometer de multi-longueur d'onde. Le client peut choisir des longueurs d'onde différentes de la gamme UV, de FORCE ou de NIR (jusqu'à 5 longueurs d'onde). Le PHE101M a tous les dispositifs que PHE101 a.
* Cinq longueurs d'onde prolongées maximales
* Longueur d'onde automatique de changement pour l'opération facile
* Excellentes précision et répétition
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* Mesure très rapide dans la gamme d'UV/VIS 250 - 1100 nanomètre avec le détecteur de rangée de diode ou le spectromètre de moteur (monochromateur)
* Prolongation facultative de domaine spectral dans le NIR (700 - 1700 nanomètre) ou (700 - 2100 nanomètre)
* Prolongation facultative de la gamme d'UV-VIS (190 - 1100 nanomètre)
* Le polariseur tournant fournit la mesure précise ...
Le prochain pas en avant dans la formation image Ellipsometry avec le nanofilm_ep3sw.
La longueur d'onde simple nanofilm_ep3sw.is un système puissant à obtenir a commencé par la formation image Ellipsometry.
La formation image te permet d'avoir une vue directe sur l'échantillon !
Vous verrez une image directe de votre échantillon provenant du CCD-appareil-photo.
Cette ...
Le prochain pas en avant dans la formation image Ellipsometry avec le ³ de PE - Se
Le ³ de PE - le Se est la seule formation image disponible dans le commerce Ellipsometer spectroscopique et offre une plus grande flexibilité pour des mesures avec la formation image Ellipsometry.
Le ³ de PE - le Se laisse :
* analyse avec l'exactitude et la précision les plus élevées
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La spectroscopie de temps-domaine de Terahertz (THz-TDS) est une technique spectroscopique, sondant les propriétés d'un matériel avec des impulsions courtes de rayonnement de terahertz. L'arrangement de génération et de détection est sensible à l'effet du matériel témoin l'amplitude et la phase du rayonnement de terahertz. À cet égard, la technique peut fournir plus d'informations que la spectroscopie ...
PHE101M est ellipsometer de multi-longueur d'onde. Le client peut choisir des longueurs d'onde différentes de la gamme UV, de FORCE ou de NIR (jusqu'à 5 longueurs d'onde). Le PHE101M a tous les dispositifs que PHE101 a.
Le PHE101M est un ellipsometer discret idéal de longueur d'onde conçu pour mesurer l'indice de réfraction et l'épaisseur des films simples et multicouche à plusieurs longueurs ...
PHE 102 Ellipsometer spectroscopique
Dispositifs
* Mesure très rapide dans la gamme d'UV/VIS 250 - 1100 nanomètre avec le détecteur de rangée de diode ou le spectromètre de moteur (monochromateur)
* Prolongation facultative de domaine spectral dans le NIR (700 - 1700 nanomètre) ou (700 - 2100 nanomètre)
* Prolongation facultative de la gamme d'UV-VIS (190 - 1100 nanomètre)
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Ellipsometer de modulation de cristal liquide
Fournit les données ellipsométriques classiques et le plein 16 élément Mueller Matrix
Possibilités augmentées d'application pour la caractérisation des échantillons dépolarisants et anisotropes
Conception modulaire
Prix concurrentiel
Recherche et développement Ellipsometer spectroscopique de haute précision
La gamme d'ellipsometer d'UVISEL offre la meilleure combinaison de la modularité et de l'exécution pour la caractérisation avancée de la couche mince, de surface et d'interface.
Basé sur la technologie de modulation de phase, l'ellipsometer d'UVISEL fournit une conception optique puissante pour couvrir sans interruption ...
Ellipsometry is a method for determining the refractive index and extinction coefficients of a sample by measuring the change in polarization state of surface reflected light. Film thickness and optical constants of an adsorption layer or oxide film on a substrate surface can be determined with exceptional sensitivity. Conventional interference spectroscopy utilizes light passed through separate optical ...
Ellipsometry spectroscopique est un outil puissant pour la métrologie de la couche mince. l'omt applique cette méthode dans un ellipsometer de table facile à utiliser avec une conception optique et mécanique modulaire avancée.
Pour des mesures sophistiquées nous fournissons différentes options comme la prolongation de longueur d'onde ou étapes motorisées pour des mesures et des possibilités ...
Le 439L633P Ellipsometer manuel est un instrument optique avancé.
Il mesure le changement de l'état de polarisation de lumière monochromatique sur la réflexion d'une surface.
Cette unité est spécifiquement conçue pour des mesures non destructives. Elle emploie des lasers pour mesurer l'épaisseur et les propriétés optiques des couches extrêmement minces, ou des couches, de matériel. ...
Dispositifs :
- De forte stabilité extraordinaire et exactitude dus à la source de lumière laser stable, à l'installation de compensateur stabilisée par température, au cheminement de polariseur et au détecteur très réduit de bruit
- Alignement fortement précis d'échantillon avec le télescope et le microscope de collimation automatiques optiques
- Mesure rapide et confortable ...
